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標簽 > 開(kāi)關(guān)損耗
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MOSFET的操作可以分為兩種基本模式:線(xiàn)性模式和開(kāi)關(guān)模式。在線(xiàn)性模式下,晶體管的柵源電壓足以使電流通過(guò)通道,但通道電阻相對較高。通道上的電壓和通過(guò)通道...
2024-06-13 標簽:MOSFET晶體管開(kāi)關(guān)損耗 123 0
電源開(kāi)關(guān)損耗是電子電路中一個(gè)重要的性能指標,它反映了開(kāi)關(guān)器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中產(chǎn)生的能量損失。準確測量電源開(kāi)關(guān)損耗對于優(yōu)化電路設計、提高系統效率具有重要意義。...
2024-05-27 標簽:示波器電源開(kāi)關(guān)開(kāi)關(guān)損耗 186 0
使用Cauer網(wǎng)絡(luò )仿真熱行為與對開(kāi)關(guān)損耗影響的評估
過(guò)去,仿真的基礎是行為和具有基本結構的模型,它們主要適用于簡(jiǎn)單集成電路技術(shù)中使用的器件。但是,當涉及到功率器件時(shí),這些簡(jiǎn)單的模型通常無(wú)法預測與為優(yōu)化器件...
Ton和Toff已經(jīng)接近圖二要求的時(shí)間,MOS管24V時(shí)帶載27歐,輸出功率21.3W,輸出電壓正常,MOS管基本不發(fā)熱。 總結一:MOS管發(fā)熱原因小結...
2023-12-11 標簽:電路設計限流電阻開(kāi)關(guān)損耗 571 0
問(wèn)題1:在功率MOSFET管應用中,主要考慮哪些參數?在負載開(kāi)關(guān)的功率MOSFET管導通時(shí)間計算,通常取多少比較好?相應的PCB設計,銅箔面積布設多大散...
2023-12-03 標簽:負載開(kāi)關(guān)功率MOSFET管MOSFET管 614 0
MOSFET 的選擇關(guān)乎效率,設計人員需要在其傳導損耗和開(kāi)關(guān)損耗之間進(jìn)行權衡。傳導損耗發(fā)生在在 MOSFET 關(guān)閉期間,由于電流流過(guò)導通電阻而造成;開(kāi)關(guān)...
詳解MOS管的米勒效應、開(kāi)關(guān)損耗、導通損耗、續流損耗
要比喻的話(huà),三極管像綠皮車(chē),MOS管像高鐵。
2023-08-21 標簽:MOSFET場(chǎng)效應管MOS管 1761 0
CCM 模式與 DCM 模式的開(kāi)關(guān)損耗有所不同。先講解復雜 CCM 模式,DCM 模式很簡(jiǎn)單了。
2023-07-17 標簽:開(kāi)關(guān)電源MOS管DCM 7265 0
并網(wǎng)逆變器學(xué)習筆記5---三電平DPWM立即下載
類(lèi)別:電子資料 2023-03-03 標簽:逆變器DPWM開(kāi)關(guān)損耗 255 0
FGH60N60SMD 60A600V IGBT單管在工業(yè)逆變應用中的解決方案立即下載
類(lèi)別:電子資料 2023-02-24 標簽:IGBT單管開(kāi)關(guān)損耗 202 0
IGBT數據手冊中開(kāi)關(guān)損耗圖表的理解立即下載
類(lèi)別:電子資料 2023-02-23 標簽:IGBT開(kāi)關(guān)損耗 245 0
類(lèi)別:電子資料 2023-02-23 標簽:IGBT開(kāi)關(guān)損耗導通損耗 449 0
類(lèi)別:電子資料 2023-02-22 標簽:IGBT開(kāi)關(guān)損耗 242 0
類(lèi)別:實(shí)用工具 2021-10-22 標簽:開(kāi)關(guān)電源電源開(kāi)關(guān)開(kāi)關(guān)管 952 0
功率MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗分析立即下載
類(lèi)別:電子資料 2021-04-16 標簽:MOSFET開(kāi)關(guān)損耗 1124 1
雙晶體管正激有源鉗位軟開(kāi)關(guān)電源設計解析立即下載
類(lèi)別:開(kāi)關(guān)電源 2017-11-16 標簽:鉗位雙晶體管開(kāi)關(guān)損耗 784 0
無(wú)源無(wú)損軟開(kāi)關(guān)雙降壓式全橋逆變器_尹培培立即下載
類(lèi)別:電源技術(shù) 2016-11-05 標簽:軟開(kāi)關(guān)無(wú)源無(wú)損開(kāi)關(guān)損耗 728 0
類(lèi)別:電源技術(shù) 2016-05-11 標簽:開(kāi)關(guān)損耗同步整流管驅動(dòng)損耗 1008 0
碳化硅(SiC)的性能潛力是毋庸置疑的,但設計者必須掌握一個(gè)關(guān)鍵的挑戰:確定哪種設計方法能夠在其應用中取得最大的成功。
2023-05-04 標簽:MOSFETSiC開(kāi)關(guān)損耗 429 0
利用示波器探頭進(jìn)行開(kāi)關(guān)損耗測試
如今的開(kāi)關(guān)電源技術(shù)很大程度上依托于電源半導體開(kāi)關(guān)器件,如MOSFET和IGBT。這些器件提供了快速開(kāi)關(guān)速度,能夠耐受沒(méi)有規律的電壓峰值。同時(shí)在On或Of...
半導體器件并不完美——所有二極管和晶體管都因開(kāi)關(guān)和導通而產(chǎn)生功率損耗。開(kāi)關(guān)損耗發(fā)生在結的通斷狀態(tài)之間的間隔期間,此時(shí)器件端子上既有電壓又有電流流過(guò)。傳導...
2022-04-21 標簽:電子設備半導體器件開(kāi)關(guān)損耗 2872 0
開(kāi)關(guān)損耗測量中的注意事項及影響因素解析
功率損耗是開(kāi)關(guān)器件性能評估的重要環(huán)節,也是工程師在選配時(shí)重點(diǎn)關(guān)注的一項高級功能。雖然很多實(shí)驗室配備了功率損耗測量環(huán)境,對設備和探頭也投入不菲,但如果工程...
2021-12-15 標簽:示波器探頭開(kāi)關(guān)損耗 494 0
一個(gè)高質(zhì)量的開(kāi)關(guān)電源效率高達95%,而開(kāi)關(guān)電源的損耗大部分來(lái)自開(kāi)關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開(kāi)關(guān)器件的損耗,對于效率分析是非常關(guān)鍵的。...
2019-06-26 標簽:開(kāi)關(guān)損耗 770 0
為了使MOSFET整個(gè)開(kāi)關(guān)周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實(shí)現其在開(kāi)通過(guò)程的ZVS。如同步BUCK電路下側續流管,由于其寄生的二極管或...
2012-04-12 標簽:MOSFET開(kāi)關(guān)損耗 6.0萬(wàn) 1
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