半導體測試
電子發燒友網半導體測試內容涉及半導體測試設備、半導體測試技術、半導體封裝測試、半導體測試儀器以及半導體分裝測試，專為半導體測試工程師提供技術知識的優秀平臺。
AMD和南通富士通微電子股份有限公司完成半導體封裝測試合資公司交易
AMD總裁兼首席執行官蘇姿豐博士（Dr. Lisa Su）表示：“AMD在檳城與蘇州擁有世界級團隊和一流的設施，而在增長的封裝測試市場里，南通富士通微電子股份有限公司具有豐富的專業知識，二者強...
2016-05-05 4496
如何用示波器正確測量電源紋波
電源紋波測試在電源質量檢測中是很重要的一項參數。由于直流穩壓電源一般是由交流電源經整流、濾波、穩壓等環節而形成的，這就不可避免地在直流電壓中多少帶有一些交流分量，這種疊加...
2016-04-07 74960
教你如何測量芯片數字模擬噪聲
文將介紹一種利用PrimeTime-SI來生成由數字信號在模擬網絡上引起的串擾上限的技術。如果此技術揭露出潛在的問題，則會通過HSPICE進行進一步分析。##文將介紹一種利用PrimeTime-SI來生成由數字信...
2015-09-18 5421
IFA2015各大廠商智能手機現場評測匯總
華為在柏林IFA消費電子展上舉行了新品發布會，其發布了包括Mate S、華為G8（國內叫G7 Plus）、華為手環等新產品。##從定位低到高分別有Z5 Compact、Z5與Z5尊享版（海外稱為Z5 Premium），而過往的...
2015-09-09 3134
大聯大詮鼎集團力推展訊3G、4G解決方案
醫療保健、運動健身、游戲乃至時尚等多個行業展示了下一代概念，這些概念或許會轉變為“真正”的產品。這一市場預計會在未來幾年中迎來爆炸式增長，潛在價值達 500 億美元。...
2015-06-16 603
Fairchild大幅降低IGBT損耗，助力工業和汽車應用中效率的提升
Fairchild將在PCIM Asia上介紹如何通過打破硅“理論上”的限制 來將IGBT 開關損耗降低30%...
2015-06-15 1016
引領PXI技術創新 NI第十二屆“中國PXI技術和應用論壇”在京舉行
2015年5月26日—由美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）主辦的第十二屆“中國PXI技術和應用論壇” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC）北京站會議圓滿閉幕。...
2015-06-03 918
克服多重技術障礙 成就“指尖”上的FTIR光譜儀
FTIR光譜儀（傅里葉轉換紅外光譜）是利用紅外光譜經傅里葉轉換來分析雜質濃度的光譜分析儀器，可用于氣體、液體的分析等。...
2015-05-22 2476
AMETEK Sorensen針對激光二極管測試的解決方案
在切割、焊接、通信等行業中，半導體激光二極管被越來越多地廣泛應用，逐步替代了傳統的激光器，因為激光二極管通常具有效率高、體積小、壽命長等優點。##更多的測試數據。...
2014-07-31 1681
IP豐富資源相挺 新思科技全面提升芯片測試速度
近半年來，由于晶圓代工制程的競爭愈演愈烈，也使得上游的EDA（電子設計自動化）與IP（硅智財）業者，必須與晶圓代工業者有更為深入的合作，就各自的專長彼此互補，以形成完整的生態體...
2013-09-27 1164
掃頻測量分享：如何進行射頻陶瓷貼片電容的測試？
目前廣泛應用于各種射頻電路中的貼片電容因其尺寸和電容量均較小，沒有比較合適的射頻段測試儀器。我們應用微波網絡理論分析后，自行設計共面波導作為測試夾具，利用射頻矢量...
2012-12-27 1911
典型高亮度LED生產環節全方位測試方案
高亮發光二極管（High brightness light emitting diodes，HBLED）綜合具備了高輸出、高效率和長壽命等優勢。制造商們正在開發可以實現光通量更高、壽命更長、色彩更豐富而且單位功率發光度...
2012-12-21 971
采用TI能耗測量IC簡化輔助計量
本文將專門討論其在輔助計量中的應用。在本文中，輔助計量指的是非公用事業型的電能計量應用，例如：智能插頭、電器電度表和服務器功率表。...
2012-10-18 1729
chroma6650 帶載短路，無輸出的處理方法
chroma6650電子負載測試時出現帶載短路，產品無電壓輸出而不能區分是否是負載出現故障時，可以通過以下幾點去辯別！...
2012-09-24 1575
傳感器測量方法比較
系統檢測過程中，需要運用到各種各樣的傳感器，傳感器的測量方法以及性能是檢測任務是否能夠順利完成的關鍵性因素。在實際操作過程中，需針對不同的檢測目的和具體情況進行分...
2012-08-14 1195
電阻測量的多種方法
歐姆表測電阻 1. 方法：把歐姆表選擇好倍率擋位并調零后，將紅黑表筆直接接在待測電阻的兩端，其表盤上的指示讀數即為測電阻值 （ 如圖 1 所示 ） 。 2. 使用注意事項： （1） 使用...
2012-08-13 9024
晶體管的檢測經驗的分享
（一）晶體管材料與極性的判別 1.從晶體管的型號命名上識別其材料與極性 國產晶體管型號命名的第二部分用英文字母AD表示晶體管的材料和極性。其中，A代表鍺材料PNP型管，B代表鍺...
2012-07-23 1031
超越CMOS量測技術在持續發展
目前納米器件被認為有可能替代常規半導體，其主要問題是它的接觸問題。研究的材料和結構顯然超出了CMOS范圍，如果要繼續滿足對器件性能不斷提高的要求，量測技術允許工程師觀察...
2012-04-27 576
實用的集成芯片測試儀方案
我們采用AT89C52單片機設計了集成芯片測試系統。該測試系統能夠實現對高校實驗室中常用的TTL、CMOS系列芯片及一些常用按鍵開關的功能檢測，同時通過RS232串行口與PC機相連，可以在...
2012-04-27 1701
骨架提取在IC晶片缺陷機器視覺識別中的研究
1 引言 本文在光學顯微系統和圖像采集系統下獲取了有圖形硅片經過相關處理后圖像[6]，提出了一種基于提取骨架特征的IC晶片冗余物和丟失物缺陷短路電路失效形式識別方法，并通過...
2012-04-26 941
利用多晶X射線衍射實現半導體結構在線測量
半導體制造中的大部分材料是多晶材料，比如互連線和接觸孔。XRD能夠將多晶材料的一系列特性量化。這其中最重要的特性包括多晶相(鎳單硅化物，鎳二硅化物)，平均晶粒大小，晶體...
2012-04-26 1741
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