透射電鏡

詳解半導體行業的TEM技術

透射電子顯微鏡（TEM）具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力，可用于先進半導體技術中亞納米尺寸器件特征的計量和材料表征，比如評估界面細節、器件結...

2023-12-18 標簽：半導體TEM電子顯微鏡 1369 0

如何分析長周期有序堆垛結構(LPSO)

18R-LPSO 相主要存在于鑄態鎂稀土合金中，普遍認可其化學式為 Mg10YZn 或Mg29Y4Zn3 相，原子堆垛順序為 ACACBABABACBC...

2023-12-04 標簽：熱處理透射電鏡 799 0

如何在透射電鏡下判斷位錯類型

最近收到老師同學們的許多問題，其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位錯、混合位錯)”。在此，為了能快速理解并分析，我整理...

2023-11-13 標簽：晶體電子束TEM 906 0

鈉離子電池如何實現80000次超長循環？

鈉離子電池（NIB）資源豐富、成本低廉，可以作為鋰離子電池的有益補充。然而，Na+（1.02 ?）的半徑比 Li+（0.76 ?）大，容易導致電極材料在...

2023-11-02 標簽：電容晶體鈉離子電池 404 0

機器視覺成像：明場像與暗場像都有什么區別呢

透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣，這兩種像分別為不同電子成像，前者是透射電子成像，后者為散射電子成像。

2023-10-31 標簽：光源照相機機器視覺 1479 0

透射電鏡TEM測試原理及過程

透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子...

2023-08-29 標簽：測試TEM透射電鏡 1798 0

晶體缺陷的幾何特征有哪些 晶體的位錯是什么缺陷

位錯是晶體原子排列的一種特殊組態。位錯的概念最早是在研究晶體滑移過程時提出來的。當金屬晶體受力發生塑性變形時，一般是通過滑移過程進行的，即晶體中相鄰兩部...

2023-08-25 標簽：晶體透射電鏡 6679 0

環境透射電鏡揭示鋰氧電池的反應機理

隨著鋰離子電池能量密度的提高，傳統的“含鋰氧化物/石墨”電池結構已經難以滿足高比能量鋰離子電池的需求。

2017-04-13 標簽：鋰離子電池鋰氧電池透射電鏡 2630 0

德國進口SEM掃描電子顯微鏡的應用

有人曾經說過："如果我想得到準確的尺寸，我就把被測樣品交給SEM操作員。蔡司代理三本精密儀器小編介紹，SEM是一種儀器，人們常常想當然地認為它...

2024-03-20 標簽：電子顯微鏡電鏡掃描電鏡 71 0

透射電鏡TEM測試解剖芯片結構：深入微觀世界的技術探索

在芯片制造領域，透射電鏡TEM技術發揮著至關重要的作用。通過TEM測試，科學家可以觀察芯片中晶體結構的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結構，從而深入了解...

2024-02-27 標簽：芯片測試芯片結構 308 0

SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

在鉆孔過程中鉆頭會發生磨損，評估和量化磨損的狀況至關重要，因為鉆頭的狀態會直接影響加工孔的質量。如何簡單、快速的獲取鉆頭的磨損狀態？如何精準的定量分析鉆...

2024-01-08 標簽：電子顯微鏡電鏡掃描電鏡 218 0

蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 500介紹

蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學技術大學龔明教授進行了采訪，談了對于蔡司場發射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學技術大學工程與材料...

2023-12-20 標簽：電鏡圖像電鏡掃描電鏡 414 0

蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠對各種材質的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結構進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附...

2023-07-26 標簽：顯微鏡電鏡透射電鏡 820 0

公開課 | 透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用

此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士、廣電計量半導體技術副經理劉辰作為講師。屆時，報名用戶不僅能免費參與課程，聽課期間還有超強的技術專家團隊為大...

2023-03-20 標簽：芯片半導體TEM 669 0

芯片透射電鏡測試—競品分析

芯片透射電鏡測試，量子阱 位錯，膜厚分析，芯片解剖

2022-05-12 標簽：芯片透射電鏡 653 0