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東芝第3代碳化硅MOSFET為中高功率密度應用賦能

東芝半導體 ? 來源:未知 ? 2023-10-17 23:10 ? 次閱讀

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碳化硅(SiC)是第3代半導體材料的典型代表,具有高禁帶寬度、高擊穿電場和高功率密度、高電導率、高熱導率等優越的物理性能,應用前景廣闊。

目前,東芝的碳化硅MOSFET也已經發展到了第3代,新推出的650V和1200V電壓產品現已量產。其柵極驅動電路設計簡單,可靠性得到進一步的提高。

碳化硅MOSFET的優勢

相同功率等級的硅MOSFET相比,新一代碳化硅MOSFET導通電阻、開關損耗大幅降低,適用于更高的工作頻率,其高溫工作特性也大大提高了器件的高溫穩定性。其優點包括工作溫度高、阻斷電壓高、損耗低、開關速度快四大方面。

在相同的功率等級下,設備中功率器件的數量、散熱器體積、濾波元件體積都能大大減小,同時效率也有大幅度的提升,有助于實現車輛電氣化和工業設備的小型化。

器件的基本特性

東芝第3代碳化硅MOSFET

東芝第3代碳化硅MOSFET的主要特性如下

(1)單位面積導通電阻低(RDS(ON)A)

(2)低漏源導通電阻×柵漏電荷(RDS(ON)×Qgd

(3)低二極管正向電壓:VDSF=-1.35V(典型值)@VGS=-5V

(4)內置SBD實現低VF和高可靠性(繼第二代產品之后)

(5)顯著改善導通電阻和開關損耗

(6)抗噪性高,使用方便

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東芝第3代碳化硅MOSFET主要規格

功能特性分析

東芝推出的第3代TWxxNxxxC系列,共有10款產品,包括5款1200V和5款650V產品。

與第2代產品一樣,這些新一代MOSFET內置了與碳化硅MOSFET內部PN結二極管并聯的碳化硅肖特基勢壘二極管(SBD),其正向電壓(VF)低至-1.35V(典型值),可以抑制RDS(on)波動,從而提高了可靠性。

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內置SBD抑制波動

不過,當MOSFET采用SBD單元時,會使MOSFET的性能下降:單位面積導通電阻(RDS(ON)A)及代表導通電阻和高速的品質因數(Ron*Qgd)增大。為了降低單位面積導通電阻通常會增加芯片面積,但這又帶來了單位成本的問題。

為此,東芝利用先進的碳化硅工藝顯著改善了單位面積導通電阻RDS(ON)A和Ron*Qgd。新產品的RDS(ON)A比第二代產品降低了43%,從而使漏源導通電阻×柵漏電荷(Ron*Qgd)降低了約80%,開關損耗約降低約20%,有助于提高設備效率。此外,由于柵極驅動電路設計簡單,可防止開關噪聲引起的故障。

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東芝第3代碳化硅MOSFET和第二代產品的結構

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新產品RDS(ON)A的改進

在VDD=800V,ID=20A,L=100μH,RG(外部柵極電阻)=4.7Ω測量條件下,測量的第2代和第3代碳化硅MOSFET的導通和關斷波形如下圖所示。

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兩代產品的導通和關斷波形

產品應用方向

東芝650V和1200V第3代碳化硅MOSFET擁有更低的功耗,適用于大功率且高效、高功率密度的各類應用,如開關電源(數據中心、服務器、通信設備等)、不間斷電源(UPS)、光伏逆變器、電動汽車充電站等。

東芝也在不斷擴大其功率器件產品線,強化生產設施,并通過提供易于使用的高性能功率器件,為中高功率密度應用賦能,努力實現碳中和經濟。

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原文標題:東芝第3代碳化硅MOSFET為中高功率密度應用賦能

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