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電子發燒友網>制造/封裝>半導體晶圓測試的探針卡制作及應用

半導體晶圓測試的探針卡制作及應用

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2023-10-23 11:05:50

半導體幾何形貌自動檢測機

WD4000系列半導體幾何形貌自動檢測機采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術,完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實現厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR
2023-11-06 10:47:07

測溫系統tc wafer表面溫度均勻性測溫

測溫系統tc wafer表面溫度均勻性測溫表面溫度均勻性測試的重要性及方法        在半導體制造過程中,的表面溫度均勻性是一個重要的參數
2023-12-04 11:36:42

TC wafer 測溫系統廣泛應用半導體上 支持定制

TC-Wafer是將高精度溫度傳感器鑲嵌在表面,對表面的溫度進行實時測量。通過的測溫點了解特定位置的真實溫度,以及圓整體的溫度分布,同還可以監控半導體設備控溫過程中發生的溫度
2023-12-21 08:58:53

WD4000半導體厚度測量系統

WD4000半導體厚度測量系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07

世界半導體巨頭都有哪些?#芯片 #半導體 #半導體設備 #制造過程 #科技 #硬聲創作季

科技制造制備
電子知識科普發布于 2022-10-22 13:16:12

半導體物理與器件:四探針法測半導體電阻率#半導體

半導體探針
學習電子發布于 2022-11-10 15:01:27

#2022慕尼黑華南電子展 #測試 #制造過程 #SSD開

制造
艾迪科電子發布于 2022-11-18 13:31:37

半導體的朋友-探針

、high Z測量、DC測量、RF測量和微波特性測量提供一個測試平臺。系統的探針、測試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇,從而滿足不同應用的需要。系統適用于實驗室級別的精準電學特性測量和分析。半導體特性分析
2018-11-15 13:51:01379

半導體的朋友-探針

。國際通用的真空接口設計,使未來的擴展與升級更加容易。變溫范圍從-196℃~400℃極限真空在1*10-4Pa以上應用領域:半導體器件:片上參數測試、晶圓級可靠性、封裝器件的特性分析、C-V、I-V
2018-11-15 13:53:25831

半導體晶圓測試探針卡與LTCC/HTCC的聯系

晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯動,在測試過程中,測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885

連接微觀與宏觀:半導體探針臺的科技與創新

半導體產業是全球技術進步的核心引擎,其成果無處不在,從我們的智能手機到現代交通工具,再到各種先進的醫療設備。而在這一巨大產業中,每一個微小但至關重要的部分都需經過嚴格的測試,以確保其性能和可靠性。這就是半導體檢測設備探針臺(通常稱為“探針卡”或“探針臺”)發揮作用的地方。
2023-07-25 09:59:13748

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