兩種方法: 時域和頻域測試,如下:
?方法1. ATE time measurement unit ( TMU)測試。(時域,需要額外的TMU license,因此常不采用。)
實施步驟:ATE 構造TMU TASK。TMU可以非常高精度地根據task設置trigger到上升沿的時刻,因此可以通過兩個上升沿的差值計算出頻率,支持多次采樣,如下圖所示:
?方法2. 構造采樣向量,離散傅里葉公式計算頻譜,頻譜的最大和第2大頻率轉換即為待測信號頻率。(頻域)
?a)預先構造一條全L的向量,假設叫做PLL_sample.
?b) 運行DFT PLL向量的測試項。運行后, 不復位的情況下DUT此時穩定輸出時鐘信號。
?c) 運行預先構造好的向量PLL_sample,收集fail cycle,也就是ATE的error
map。獲得一串0/1組成的一維序列,如下圖(點擊可放大):
?d)。對獲得一維序列進行漢明窗口卷積后,使用快速離散傅立葉變換獲得頻譜。通過頻譜可以相當高精度的獲得輸出的頻率,通過spec進行分bin。
實際步驟:首先應用DSP_FFT與漢明窗口。然后搜索頻譜第一大主頻kmax 和第二大頻,(kmax-1 或者kmax+1)。如圖所示,第1大和第2大頻率成為關鍵參數。
核心為兩個公式:
-
測試
+關注
關注
8文章
4562瀏覽量
125273 -
IC
+關注
關注
35文章
5573瀏覽量
173513 -
pll
+關注
關注
6文章
745瀏覽量
134639 -
ATE
+關注
關注
5文章
108瀏覽量
26487
發布評論請先 登錄
相關推薦
評論