一、無源晶振和有源晶振測試結果對比
1.無源晶振測試
??LR35使用無源晶振常溫頻偏測試結果為:1.5KHz左右
??但是在高低溫速率1的條件下存在丟包或者無法進行透傳問題,前期通過更換不同大小的晶振以及調整匹配電容減小頻偏,效果不理想,高低溫還是丟包大。
2.有源晶振測試
??有源晶振常溫頻偏測試為:0.375KHz
??高溫85度頻偏測試為:0.75KHz,如下圖所示,丟包也在正常范圍內;
??在低溫-40度丟包也在正常范圍內;在這里插入圖片描述
二、62.5K帶寬下最大頻偏偏差通信測試
??通過更換不同大小晶振以及調試匹配電容,以達到最大頻偏偏差;
??第一組:一個使用-10ppm,另一個使用+10ppm,并調節使用+10pppLR30模塊匹配電容為12pf和10pf;測試頻偏結果如下:
??頻偏偏差為15.25KHz,測試通信可以進行透傳;
??第二組:同樣使用±10ppm晶振,調節+10ppm晶振匹配電容為2個10pf,測試頻偏結果如下:
??兩者偏差為:16.125KHz,測試通信無法進行透傳;
??第三組:操作步驟同上,使得兩者頻偏偏差為:15.375KHz,測試通信可以進行透傳;
??第四組:操作步驟同上,使得兩者頻偏偏差為:17.15KHz,測試通信無法進行透傳;
??因匹配電容以及晶振原因無法進行詳細頻偏偏差測試,只能測試大概范圍;
??結論如下:在62.5KHz帶寬下,可以進行通信的最大頻偏偏差為15K左右;
三、開發總結
??1、通過上面對比測試,有源晶振在高低溫測試時,能有效的控制頻偏范圍,從而數據能夠穩定進行傳輸。
??2、62.5K帶寬下能進行透傳的頻偏偏差范圍為:不超過帶寬的四分之一。
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