臺階儀膜厚測量：工業與科研中的納米級精度檢測

臺階儀的工作原理

臺階儀的核心部件是一個精密的觸針或探針，它被安裝在一個高度可調的支架上。當觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于表面可能存在微小的峰谷，觸針在滑行的同時會根據表面的起伏作上下運動。這些上下運動被轉換為電信號，通過精密的傳感器和數據采集系統記錄下來。

臺階儀測量膜厚的原理

臺階儀測量膜厚的原理是基于臺階高度差的變化。具體操作時，臺階儀的探針會沿著薄膜表面移動，探針上的傳感器會記錄下探針在薄膜表面和基底表面的垂直位移變化，并通過數據處理系統轉換成薄膜的厚度值，從而計算出薄膜厚度。

CP系列臺階儀采用LVDC電容傳感器，具有亞埃級分辨率和超微測力特點。在測量測薄膜厚度方面，具有以下特點：

1）結合了360°旋轉臺的全電動載物臺，能夠快速定位到測量標志位；

2）對于批量樣件，提供自定義多區域測量功能，實現一鍵多點位測量；

3）提供SPC統計分析功能，直觀分析測量數值變化趨勢；

臺階儀測量膜厚的優勢

1、高精度

CP系列臺階儀出色的重復性和再現性，其分辨率可達納米級別，完全滿足被測件測量精度的要求。它采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，接觸力非常小，具備超高的測量精度和測量重復性，亞埃級垂直分辨率適合各類材質、吸光特性的表面測量。

2、高效率

配備有高速數據采集和分析系統，采用超精細的運動控制、標定算法等核心技術，測量穩定、便捷、高效。

3、多樣化的測量功能

除了測量膜厚，臺階儀還可以測量表面粗糙度、臺階高度等多種表面特性，具有很強的多功能性。

4、適應范圍廣

臺階儀樣品適應面廣，對測量表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求。

5、操作簡單

臺階儀配備有用戶友好的操作界面和強大的數據處理軟件，操作簡單。用戶只需將探針放置在臺階上，儀器便會自動計算出薄膜的厚度，無需復雜的校準過程。

臺階儀在膜厚測量領域有其獨特的優勢，它不僅提供了高精度的測量結果，而且同時具備快速、多功能和易于操作的特點。隨著技術的不斷進步，臺階儀在材料科學和精密工程中的應用將會更加廣泛，為薄膜材料的研究和質量控制提供強有力的支持。