神秘的德州儀器DLP NIRscan Nano模塊被大卸八塊

　　為了將DLP NIRscan Nano評估模塊(EVM)的硬件及光引擎解釋清楚，網友拆解了一個早期由Coretronic公司生產的模塊。需要注意的是，任何對光引擎的拆解會使NIRscan Nano EVM的保修失效。另外，去掉光引擎上的罩子會使灰塵和污垢聚集在光學器件上，從而影響到系統性能。此外，去掉上面的罩子會移動光學器件、狹縫和探測器，使這些元件錯位，需要廠家重新進行對準和校準。如果拆除了狹縫，將需要把InGaAs探測器和DLP2010NIR返廠進行系統對準與校準。

　　我們先來快速瀏覽一下。如下圖所示，基于DLP的分光計利用數字微鏡器件 (DMD)和單點探測器取代了傳統線性陣列探測器。通過按順序打開與特定波長光相對應的一組鏡列，對應光線被指向探測器，并被捕獲。通過掃描DMD上的一組鏡列，可以計算出吸收光譜。要獲得與DLP分光計實現方式相關的更多細節，請參考DLP分光計設計注意事項 。

近紅外 (NIR) 光譜光譜分析中的DLP技術提供以下優勢：

　　與具有極小像素的線性陣列探測器相比，通過使用更大的單點1mm探測器，它能實現更高性能。

　　通過使用單元探測器和低成本光學器件，它能實現更低的系統成本。高分辨率DMD使得定制圖形能夠補償每一個單獨系統的光學失真。

　　能夠捕獲更大信號不僅得益于相比傳統技術，DMD具有更大的光學擴展量（etendue），而且也受益于其快速、靈活、以及可編程的顯示模式及濾波器設計。

　　借助可編程顯示模式，DLP分光計能夠：

　　通過控制一個鏡列中的像素數量來改變到達探測器的光的強度。

　　通過控制鏡列的寬度來改變系統的分辨率。

　　使用一組Hadamard圖形來在一個模式內捕捉多個波長的光。然后，單獨的波長數據可通過解碼獲取。每個模式內打開DMD像素數量的50%，將比上面提到的列掃描方式獲得更強信號引至探測器/

　　使用定制光譜濾波器來選擇需要的特定波長。

　　當前，DLP NIRscan Nano軟件支持可變分辨率和Hadamard圖形。不支持可變強度和定制光譜濾波器。光譜濾波器的示例請見SPI論文：由Eric Pruett撰寫的德州儀器 (TI) DLP近紅外分光計的最新開發實現了下一代嵌入式小巧、便攜式系統。

　　DLP NIRscan Nano具有以下主要組件：

　　拿掉光引擎的罩子后，可以看到受其保護的DMD和探測器電路板。

探測器電路板包含以下主要組件

　　1mm非冷卻Hamamatsu G12180-010A InGaAs光電二極管（探測器）。

　　OPA2376轉阻低噪聲放大器：將InGaAs探測器到ADC的信號放大。

　　ADS1255 ADC：將InGaAs探測器的已放大信號轉換為用于Tiva處理的24位值。

　　TMP006熱電偶傳感器：測量InGaAs探測器系統的環境溫度。這些值在每次掃描時被捕獲。

　　REF5025：低噪聲、極低漂移、高精度電壓基準，它為轉阻放大器和ADC提供2.5V基準。

　　OPA350：對轉阻放大器的2.5V基準電壓進行緩沖的高速運行放大器。

裝上探測器后：