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運算放大器是模擬器件的核心，熟悉運放的特性也就掌握了模擬IC的基礎，掌握了運放的測試，其余模擬IC的測試也就能夠順利清楚，所以運放在模擬IC中有著至關重要的地位，故勸各位熟悉并掌握它，現將其各項參數測試具體說明如下：
1. 運算放大器測試方法基本原理
采用由輔助放大器（A）與被測器件（DUT）構成閉合環路的方法進行測試，基本測試原理圖如圖1所示。
圖 1
輔助放大器應滿足下列要求：
?。?） 開環增益大于60dB；
?。?） 輸入失調電流和輸入偏置電流應很??；
?。?） 動態范圍足夠大。
環路元件滿足下列要求：
?。?） 滿足下列表達式
Ri·Ib＜Vos
R＜Rid
R·Ib ＞Vos
R1＝R2
R1＞RL
式中：Ib： 被測器件的輸入偏置電流；
Vos：被測器件的輸入失調電壓；
Rid：被測器件的開環差模輸入電阻；
Ros：輔助放大器的開環輸出電阻；
?。?） Rf/ Ri值決定了測試精度，但須保證輔助放大器在線性區工作。
2.運算放大器測試適配器
SP-3160Ⅲ 數/?；旌?a href="http://www.qd573.com/v/tag/123/" target="_blank">集成電路測試系統提供的運算放大器測試適配器便是根據上述基本原理設計而成。它由運放測試適配板及一系列測試適配卡組成，可以完成通用單運放、雙運放、四運放及電壓比較器的測試。運算放大器適配器原理圖如附圖所示。
3．測試參數
以OP-77G為例，通用運算放大器主要技術規范見下表。
3.1參數名稱：輸入失調電壓 Vos （Input Offset Voltage）。
3.1.1參數定義：使輸出電壓為零（或規定值）時，兩輸入端間所加的直流補償電壓。
3.1.2測試方法： 測試原理如圖2 所示。
圖2
?。?） 在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
?。?） 電源端施加規定的電壓；
?。?） 開關“K4”置地（或規定的參考電壓）；
?。?） 在輔助放大器A的輸出端測得電壓Vlo；
?。?） 計算公式：
Vos=（Ri/（Ri+Rf））*VLo。
3.1.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：vos----
測量方式：Vos
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=0.0001V
測量低限=____V
測量延遲：50mS
箝位延遲：50mS
SKon=［0，4，11，12，13，19，23，27］
電壓基準源2電壓=0V
電壓基準源2量程+/-2.5V
電壓基準源3電壓=0V
電壓基準源3量程+/-2.5V
測試通道 TP1
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-2V
3.2參數名稱：輸入失調電流 Ios （Input Offset Current）。
3.2.1參數定義：使輸出電壓為零（或規定值）時，流入兩輸入端的電流之差。
3.2.2測試方法：測試原理如圖3 所示。
圖3
?。?）在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
?。?） 電源端施加規定的電壓；
?。?） 開關K4置“地”（或規定的參考電壓）；
?。?） 開關K1、K2閉合，在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL0；
?。?） 開關K1、K2斷開，在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL1；
?。?） 計算公式：
Ios=（Ri/（Ri+Rf））*（（VL1-VL0）/R） 。
3.2.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
測試條件詳見下一參數。
3.3參數名稱：輸入偏置電流 Ib （Input Bias Current）。
3.3.1參數定義：使輸出電壓為零（或規定值）時，流入兩輸入端電流的平均值。
3.3.2 測試方法：測試原理如圖4 所示。
圖4
?。?） 在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
?。?） 電源端施加規定的電壓；
?。?） 開關K4置“地”（或規定的參考電壓）；
?。?） 開關K1斷開、K2閉合，在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL2；
?。?） 開關K1閉合、K2斷開，在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL3；
?。?） 計算公式：
Ib=（Ri/（Ri+Rf））*（（VL2-VL3）/2R） 。
3.3.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：Ib/Ios----
測量方式：Ib/Ios
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=2.8nA
測量低限=2.8nA
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，11，12，13，19，23，27］
電壓基準源2電壓=0V
電壓基準源2量程+/-2.5V
電壓基準源3電壓=0V
電壓基準源3量程+/-2.5V
測試通道 TP1
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-2V
3.4參數名稱：開環電壓增益Avo （Large Signal Voltage Gain）。
3.4.1參數定義：器件開環時，輸出電壓變化與差模輸入電壓變化之比。
3.4.2測試方法：測試原理如圖5 所示。
圖5
?。?） 在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
?。?） 電源端施加規定的電壓；
?。?） 開關K4置“1”，在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL4；
?。?） 開關K4置“2”，在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL5；
?。?） 計算公式：
Avo=（（Vref+-Vref-）/（VL4-Vl5））*（（Ri+Rf）/Ri） 或
Avo=20lg（（（Vref+-Vref-）/|（VL4-Vl5）|）*（（Ri+Rf）/Ri））（dB） 。
3.4.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：Avo----
測量方式：Op_Avo
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=____dB
測量低限=126dB
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，11，12，13，17，19，23，27］
電壓基準源2電壓=0V
電壓基準源2量程+/-2.5V
電壓基準源3電壓=-5_5V
電壓基準源3量程+/-10V
測試通道 TP1
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-2V
3.5參數名稱：共模抑制比CMRR （Common-Mode Rejection Ratio）。
3.5.1參數定義：差模電壓增益與共模電壓增益之比。
3.5.2測試方法：測試原理如圖6 所示。
?。?） 在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
?。?） 電源端施加規定的電壓；
?。?） 輸入端施加規定的直流共模信號電壓Vic+，在輔助放大器A的輸出端測得
電壓VL6；
?。?） 輸入端施加規定的直流共模信號電壓Vic-，在輔助放大器A的輸出端測得
電壓VL7；
?。?） 計算公式：
CMRR=（（Vic+-Vic-）/（VL6-VL7）*（（Ri+Rf）/Ri）或
CMRR=20lg（（（Vic+-Vic-）/（VL6-VL7）*（（Ri+Rf）/Ri））（dB） 。
3.5.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：CMRR----
測量方式：Cmrr
Bias 1=-5_-25 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=25_5 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=____dB
測量低限=116dB
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，11，12，13，18，19，23，27］
電壓基準源2電壓=0V
電壓基準源2量程+/-2.5V
電壓基準源3電壓=-5_5V
電壓基準源3量程+/-10V
測試通道 TP1
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-2V
運算放大器是模擬器件的核心，熟悉運放的特性也就掌握了模擬IC的基礎，掌握了運放的測試，其余模擬IC的測試也就能夠順利清楚，所以運放在模擬IC中有著至關重要的地位，故勸各位熟悉并掌握它，現將其各項參數測試具體說明如下：
3.6參數名稱：電源電壓抑制比PSRR （Power Supply Rejection Ratio）。
3.6.1參數定義：電源的單位電壓變化所引起的輸入失調電壓的變化率。
3.6.2測試方法：測試原理如圖7所示。
圖7
在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
開關K4置“地”（或規定的參考電壓）；
開關K置“1”，在輔助放大器A的輸出端測得電壓VL8；
正電源電壓變化？V，負電源電壓為V-，在輔助放大器A的輸出端測得電壓
VL9；
計算公式：
PSRR+=（（VL9-Vl8）/ ？V）*（Ri/（Ri+Rf））或
PSRR+=20lg（（（VL9-Vl8）/ ？V）*（Ri/（Ri+Rf）））（dB） ；
?。?） 負電源電壓變化？V，正電源電壓為V+，在輔助放大器A的輸出端測得電壓
VL10；
計算公式：
PSRR-=（（VL10-Vl8）/ ？V）*（Ri/（Ri+Rf））或
PSRR-=20lg（（（VL10-Vl8）/ ？V）*（Ri/（Ri+Rf）））（dB） 。
3.6.4編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：psrr+----
測量方式：Psrr
Bias 1=-15 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15_5 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=____dB
測量低限=110dB
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，11，12，13，19，23，27］
電壓基準源2電壓=0V
電壓基準源2量程+/-2.5V
電壓基準源3電壓=0V
電壓基準源3量程+/-2.5V
測試通道 TP1
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-2V
----測試名稱：psrr- ----
測量方式：Psrr
Bias 1=-15_-5 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=____dB
測量低限=110dB
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，11，12，13，19，23，27］
電壓基準源2電壓=0V
電壓基準源2量程+/-2.5V
電壓基準源3電壓=0V
電壓基準源3量程+/-2.5V
測試通道 TP1
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-2V
3.7參數名稱：輸出電壓擺幅Vo （Output Voltage Swing）。
3.7.1參數定義：器件在規定電源電壓和負載下，所能輸出的最大電壓。
3.7.2測試方法：測試原理如圖8所示。
圖8
?。?） 在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
?。?） 電源端施加規定的電壓；
?。?） 輸入端施加規定的正電壓。在被測器件輸出端測得電壓Vo+；
?。?） 輸入端施加規定的負電壓。在被測器件輸出端測得電壓Vo-。
3.7.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：vo+----
測量方式：Meter
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=____V
測量低限=12.5V
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，9，11，13，17，19，23，27］
電壓基準源1電壓=1V
電壓基準源1量程+/-2.5V
電壓基準源4電壓=1V
電壓基準源4量程+/-2.5V
測試通道 TP2
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-20V
----測試名稱：vo- ----
測量方式：Meter
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=-12.5V
測量低限=____V
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，9，11，13，17，19，23，27］
電壓基準源1電壓=-1V
電壓基準源1量程+/-2.5V
電壓基準源4電壓=-1V
電壓基準源4量程+/-2.5V
測試通道 TP2
測量單元 DCV
DCV量程 ：+/-20V
3.8參數名稱：增益帶寬積GBP （Closed-loop Bandwidth Product）。
3.8.1參數定義：在3dB/倍頻程的增益-頻率特性范圍內，電壓增益與對應頻率的乘積。
3.8.2測試方法：測試原理圖如圖9所示。
圖9
在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
電源端施加規定的電壓；
輸入端施加規定的信號電壓，調節信號頻率為Fm，使電壓增益的頻率特性為3dB／倍頻程；
在輸出端測得電壓Vo；
計算公式：
GBP=（Vo/Vi）*Fm 。
3.8.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：GBP----
測量方式：GBP
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=1.5MHz
測量低限=0.4MHz
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，11，13，14，19，23，27］
測試通道 TP2
測量單元 ACV
ACV隔離直流
ACV量程 ：+/-1V
ACV阻抗：10M
程 控 信 號 源 Sine
程控信號源幅度=1V
程控信號源頻率=12.8KHz
程控信號源低通：FH
程控信號源輸出：to TS
3.9參數名稱：輸出電壓轉換速率SR （Slew Rate）。
3.9.1參數定義： 輸入端在施加規定的大信號階躍脈沖電壓時，輸出電壓隨時間的最大變化率。
3.9.2測試方法：測試原理及波形定義如圖10或圖11所示。
圖10
圖11
?。?） 在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
?。?） 電源端施加規定的電壓；
?。?） 輸入端施加規定的脈沖信號電壓；
在輸出端從規定過沖量的輸出脈沖電壓上升沿（或下降沿）的恒定變化率區間內，測得輸出電壓幅度ΔVo和對應的時間Δt；
?。?） 計算公式：SR=ΔVo/Δt 。
3.9.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：SR----
測量方式：SR
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=____V/uS
測量低限=0.1V/uS
Vin1h=5.000V
Vin1l=0.000V
--Split=0--
Rate =100000 nS
Stb= 5000 nS
Clk 1=10 nS
Clk 8=10 nS
Wave（NRZ）=［1］
Clk1，Clk_=［1］
Inpin：［1］
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，9，11，12，13，17，19，23，27］
電壓基準源1電壓=1V
電壓基準源1量程+/-2.5V
電壓基準源4電壓=-1V
電壓基準源4量程+/-2.5V
時間測量速度：High speed
時間測量方式：Pos Edge
開始電平=-10V
結束電平=10V
3.10參數名稱：電源電流Is。
3.10.1參數定義：輸入端無信號且輸出端無負載時，器件所消耗的電源功率。
3.10.2測試方法：測試原理如圖12所示。
圖12
在規定的環境溫度下，將被測器件接入測試系統中；
電源端施加規定的電壓；
開關K4置“地”（或規定的參考電壓）；
在電源端V+及V-分別測得Is+及Is-。
3.10.3編程舉例：（測試對象：OP-77G，測試系統：SP3160）
----測試名稱：Is+----
測量方式：IDD2
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=2.5mA
測量低限=____mA
電流箝位？：10mA
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，13］
----測試名稱：Is- ----
測量方式：IDD1
Bias 1=-15.000 V
Clamp1=-10.000mA
Bias 2=15.000 V
Clamp2=10.000mA
測量高限=____mA
測量低限=-2.5mA
電流箝位？：-10mA
測量延遲：10mS
箝位延遲：10mS
SKon=［0，4，13］
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