測試測量的接線細節，接線方式與電路接線

在日常測試中，工程師們首先想到的是選擇一臺合適測試的設備，然后開始工作，往往并不太關注測量時的接線細節，事實上為了到達測量數據的準確性，測試測量的接線方法也不容小覷，我們一起來看看。

一般的測試對象主要是電流和電壓。而儀器測試的電壓、電流是ADC直接采樣的結果，功率、效率、諧波等測試項均是以電壓、電流的測量為基礎，通過運算獲得的，所以電壓、電流測量的準確性就顯得至關重要。

導體的電阻率會隨溫度變化、器件老化、線路共模/串模干擾、測量走線接線方式、電路接線方式等都會影響測量結果，本文重點講解測量接線方式、電路接線。

一、測量走線接線方式

1、不規則連接——最差的接線方式

圖1、圖2兩條測量線比較分散，形成很大的環路，當環路中有變化的磁通通過時，根據電磁感應原理，將在環路中產生與磁通同樣變化的噪聲電壓，儀器測到的值不真實。

圖1 電壓不規則接線方式

圖2 電流不規則接線方式

2、一般接線方式——平行走線

圖3、圖4相比分散的連接方式，測量線形成的環路很小，僅限于連根線之間。

圖3 電壓平行走線接線方式

圖4 電流平行走線接線方式

3、較好的連接方式——雙絞線

圖3使用雙絞線連接被測信號，與平行走線相比，雙絞線把環路細分到每個絞合環，相鄰的絞合環對外部磁場產生相反的噪聲電壓從而抵消掉。

圖5 電壓雙絞線接線方式

圖6 電流雙絞線接線方式

4、理想的接線方式——同軸電纜

圖7、圖8對稱的同軸電纜外層導體中心與內導體重合，等效面積為0，因此有很好的磁場屏蔽效果。

圖7 電壓同軸電纜接線方式

圖8 電流同軸電纜接線方式

二、電路連接接線方式

功率耗損影響

使用和負載匹配的接線方式可以降低功率損耗對測量精度的影響，以下是考慮電源和負載電阻的情況。參考前期微信文檔《功率測量儀器的“特征阻抗”》中電流表損耗定義：

電壓表損耗定義：

電壓表和電流表內阻乘積平方根暫且稱為儀器的“功率特征阻抗”。

當負載電阻RL＞RP時，電壓表損耗大，推薦電流表內接法，當負載電阻RL＜RP，電流表損耗大，推薦電流表外接法。

舉例PA5000，電壓輸入阻抗Rv約2MΩ，電流輸入阻抗Ri約100mΩ，電流量程選擇1A，電壓量程選擇300V，電壓電流功耗函數圖9，此時Rp=200√5≈447.2，當負載電阻RL約大于447.2Ω時，推薦電流表內接，反之外接，示意圖圖10。

圖9 電壓電流表功率損耗函數圖

圖10 內外接判定標準圖

1、電流表外接——測量較大電流

將電壓測量回路連到近負載一側。電流測量回路測得流經負載的電流IL和流經電壓測量回路的電流IU之和。因為測量回路電流為IL，所以誤差僅為IU，對測量精度的影響為IU/IL。

圖11 電流表外接圖

2、電流表內接——測量小電流

將電流測量回路接到近負載端。電壓測量回路測得的電壓等于負載電壓eL和電流表兩端的電壓eI之和。因為測量回路電壓為eL，誤差為eI。對測量精度的影響為RI/RL。

圖12 電流表內接

雜散電容的影響

將儀器的電流輸入端子連接到接近電源接地電位的一端，可以降低雜散電容對測量精度的影響。

電壓測量回路和電流測量回路內部結構圖，如圖13，因為外部機箱與屏蔽盒絕緣，所以存在雜散電容Cs。而誤差正是由該雜散電容產生的電流形成的。

圖13 測量回路內部結構圖

作為舉例，將考慮電源的一端和外部機箱接地的情況。

這種情況下可以考慮2種電流，負載電流IL和通過雜散電容的電流ICs如圖15虛線所示，IL從電流測量回路流經負載回到電源。如點劃線所示，ICs從電流測量回路流經雜散電容、外部機箱接地回到電源。

因此，在電流測量回路即使只測量IL，得到的也是IL與ICs的和(矢量和)，誤差僅為ICs。假設施加于Cs的電壓是VCs(共模電壓)，可以通過以下公式求取ICs。因為ICs相位超前電壓90°，所以功率因數越小，ICs對測量精度的影響就越大。

ICs=VCs× 2πf × Cs

圖14 電流輸入端子連到靠近電源高端

圖15 雜散電容帶來影響

如果將電流輸入端子連到靠近電源地電位的一端，如圖11，電流測量回路的低端（LO）接近地電位，VCs約等于零，ICs幾乎不流通。這樣就降低了對測量精度的影響。

電壓正反接影響

1、電壓反接

接地的信號源電壓加在屏蔽殼對地電容Cs上，形成額外的泄露電流ICs，在信號源內部和LO測試線阻抗上造成壓降。

圖16 電壓反接

2、電壓正接

信號源電壓加在屏蔽殼對地電容上的電壓很小，ICs為零，沒有額外的泄露電流。

圖17 電壓正接

綜上，為了實現精確測量，測量走線選用雙絞線或者同軸電纜，根據實際情況選擇適合的接線方式，電壓高端和低端確保不接反。