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PAL-XFEL上的新型軟X射線光譜

jf_64961214 ? 來源:jf_64961214 ? 作者:jf_64961214 ? 2024-05-16 06:35 ? 次閱讀

X 射線自由電子激光器 (XFEL) 的研究設施遍布世界各地,并在過去十年中不斷發展。XFEL 背后的技術可以產生從 EUV/軟 X 射線到硬 X 射線的更明亮、更高質量的高能輻射。從材料科學到結構生物學,新的和改進的基礎物理測量形式將在這些設施中成為可能。

PAL-XFEL 是韓國的一家設施,于 2017 年向用戶開放。除了明亮的 X 射線外,該設施還提供寬度低于 50fs 的小脈沖束。這使得能夠以其他技術無法獲得的能量測量與材料中的原子和電子相關的動態過程。該設施運行多條光束線,用于硬 X 射線和軟 X 射線實驗。在其他探測器中,PI-MTE用于軟 X 射線散射和光譜光束線,使用大型 2048x2048px 傳感器尺寸,可以靈活地將探測器安裝在真空中。

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PI-MTE 用于相干 X 射線衍射成像以及 X 射線吸收光譜實驗。在本文中,該設施的研究人員描述了表征光束線上儀器性能的測量結果。例如,研究人員使用圓偏振 X 射線測量 Co/Pt 多層吸收光譜中的磁圓二色性。這些測量使研究人員能夠得出有關這種材料的整體鐵磁性的結論。

審核編輯 黃宇

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