加速科技突破2.7G高速數據接口測試技術(shù)

隨著(zhù)顯示面板分辨率的不斷提升，顯示驅動(dòng)芯片（DDIC）的數據接口傳輸速率越來(lái)越高，MIPI、LVDS/mLVDS、HDMI等高速數據接口在DDIC上廣泛應用。為滿(mǎn)足高速數據接口的ATE測試需求，作為國內少數擁有完全自研的LCD Driver測試解決方案供應商，加速科技經(jīng)過(guò)近三年時(shí)間的不懈努力，已在國內率先完成了行業(yè)內最高標準的高速數據接口測試技術(shù)自主研發(fā)，推出了High Speed I/O測試板。它提供32 lanes測試接口，測試速率可達2.7Gbps。

目前，High Speed I/O測試板取得了多項核心技術(shù)的研發(fā)突破，EPR、EPA等關(guān)鍵指標達到國內領(lǐng)先水平，EPR 1ps，EPA ±66ps。除了皮秒級的高精度波形傳輸外，High Speed I/O測試板還集成了PMU（per pin）、Pattern generator、Frame processor、Jitter injection等功能單元，支持對高速數據接口測試對象進(jìn)行全面的、定制化的測試。

加速科技基于對未來(lái)顯示驅動(dòng)芯片發(fā)展的前瞻洞察，在探索中革新演進(jìn)，最終實(shí)現了從1.0Gbps到2.7Gbps的技術(shù)跨越。行業(yè)周知，高速傳輸與高精度之間的平衡是永恒的難題。如何在實(shí)現高速傳輸的同時(shí)，兼顧數據精確性，對于技術(shù)的落地應用提出了極大挑戰；此外，顯示驅動(dòng)芯片功能集成度高，這就要求高速數據接口測試全面化且支持定制。高精度、高測試接口覆蓋率成為掣肘2.7Gbps落地的兩大關(guān)鍵技術(shù)難題。

提高高速數據傳輸精確性：在實(shí)際測試場(chǎng)景中，高速數據接口在傳輸數據時(shí)要求信號的完整性極高，包括波形的上升時(shí)間、下降時(shí)間、噪聲等指標。高速傳輸的同時(shí)，保障傳輸信號質(zhì)量的最優(yōu)，技術(shù)難度極大。High Speed I/O測試板目前已實(shí)現皮秒級的高精度波形傳輸，EPR 1ps，EPA ±66ps，解決了高速信號傳輸精確性難題。

保障測試接口覆蓋率：消費者對顯示設備的顯示效果要求日益提高，推動(dòng)顯示驅動(dòng)芯片產(chǎn)品性能不斷提升，顯示驅動(dòng)芯片功能集成度持續躍升，測試接口的數量、復雜度、密度增加，同時(shí)測試需求也會(huì )變得更加定制化，High Speed I/O測試板目前能夠覆蓋主流接口的測試需求，且能確保各個(gè)接口之間的兼容性和穩定性。

加速科技的發(fā)展之路是堅持創(chuàng )新，無(wú)論是在“自上而下”的頂層設計，即產(chǎn)品研發(fā)規劃上，還是在“自下而上”的技術(shù)落地實(shí)踐，應對高速接口測試各種嚴酷挑戰的前沿探索上，始終保持著(zhù)高度的創(chuàng )新性、專(zhuān)業(yè)性，在半導體測試方面我們致力于為客戶(hù)提供最佳技術(shù)支持。

以顯示驅動(dòng)芯片測試為代表的測試場(chǎng)景中，高速數據接口測試是核心要素，要讓測試技術(shù)真正落到實(shí)處，讓技術(shù)與用戶(hù)需求融合創(chuàng )新，提升效益助力產(chǎn)品升級迭代的同時(shí)，也讓顯示領(lǐng)域創(chuàng )新凸顯出更多的價(jià)值。作為國內半導體測試領(lǐng)域領(lǐng)軍企業(yè)，加速科技將通過(guò)不斷精研技術(shù)，創(chuàng )新突破，助力半導體測試產(chǎn)業(yè)持續升級和健康發(fā)展。

審核編輯 黃宇