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解決偶發、難復現、低概率電路故障的有效策略

凡億PCB ? 來源:航科電子可靠性 ? 2024-04-26 09:39 ? 次閱讀

單臺產品的偶發故障,現場偶發,在廠內實驗室反復測試卻不能再現;

批次性產品里,個別一兩臺的故障,難以再現,也找不到原因。

這是電子產品開發、測試中最為頭疼的兩大問題。

但是,凡事會物極必反。困擾太多太久了,便是逼著人急中生智、靈光乍現、另辟蹊徑去催生新的方法論、新思想的時候了。

本文通過對規律和邏輯的剖析,對電壓容限、工程計算概念和工具的運用,提出針對這類問題的分析、測試、解決的方法。從過去的理論指導實踐,升級到方法論指導實踐。

先通過類比講一個道理。

如一個班級,有50個孩子,明天去市里參加統考,領導承諾,如果100%的孩子都統考及格,則獎勵您這位班主任老師1套中心區的三居住房。試想,您會怎么做?是馬上躺床上睡覺,在夢里去逛建材超市準備裝修,還是去廟里燒香祈禱佛祖保佑?還是冷靜下來,去做一個摸底測驗,看看有多大可能能拿到這個房子?

前面兩個做法于事無補,只有第三個相對現實一點。我們去做了一個摸底測驗,全班50個孩子全都及格了,是不是意味著明天我一定肯定以及確定就能拿到這套房子了呢???!有沒有拿不到房子的可能?

全班孩子雖然都及格了,可是從60-65-80-100分,及格線以上的分數段,每一段都有人,如果有拿不到房子的可能,那是哪幾個孩子最有可能會導致這個后果?是不是60-65分的這幾個孩子風險最大?

于是,為了老師的半生幸福,可以有兩個做法:一是讓60-65分的幾個孩子明天別去了;二是給這幾個孩子惡補,猜題押寶,把這幾個孩子的分數提高到80分以上。這兩種做法是不是都可以讓明天的全員及格把握大很多。

如果采取了第一種做法,那幾個不讓去參加考試孩子反問老師,“我明天去考試就肯定會不及格嗎”,答案是“不一定吧”,可是萬一統考考了1000套試卷,這幾個孩子有沒有可能會有那么一兩套會低于60分?

上面這個道理建議大家反復讀兩遍,把這個道理弄透了,下面的方法才好明白并靈活運用。

類比一下,假設我們有一臺產品,里面有50個參數,每個參數類比于一個孩子,參數的類型有電壓、電流、溫度、扭矩、流量、壓力...每個參數在工作中多少總有點波動,但系統對這些波動也總有一定的容忍度,這個容忍度的邊界便是及格線60分。在廠區里拷機的時候設備一切正常,可以理解成每個參數都在60分以上。

但到了客戶現場后,工況條件會有所變化,這些參數就會有所波動,那些個原來在廠區了60-65分的參數是不是就更有可能會因為客戶現場工況導致波動超出60分邊界值,設備工作就異常了??墒乾F場的工況也是波動的,因此該參數也并不是每次都會超標,只是偶爾,這就是典型的偶發癥狀。

就如下圖,實際分數水平在64分左右,但隨著每次工況的波動,其分數會在64分上下擺動,一旦擺動的程度低于了60分,系統就表現為故障,意即不及格,但是大部分時候的擺動是在60分以上的。

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如上的道理如果能認同的話,那以后對偶發問題就有了如下的思路:

1、偶發問題發生后,不要再把故障再現作為第一步的首選工作方案;因為有可能在大量的試驗后,卻根本激發不出來。64分的水平,考它20套卷子,不一定會激發出不及格來。

2、正確的思路:

a)根據故障現象,分析可能有問題的參數;

b)故障機器不方便取回來的話,就找一臺跟故障機器設計上、器件上、工藝上完全一樣的機器(如果能把故障機器拿回來更好),對哪幾個可能有問題的參數(這個參數可能是數據、可能是波形、也可能不是電類型的參數)進行測量;

c)查出每個參數的及格線(電學參數的話查該信號接收入口端的電壓或電流容限);

d)拿b)中的測試結果與c)中的及格線做對比,評估出其大概分數,定性分析看是否在60多分。如果是,則整改之,將分數提高到80分以上即可。

e)然后做批量驗證,最好送到原來發生問題的現場去驗證,觀察一段時間后,該偶發問題不再發生,則可下結論,該問題已被妥善解決。

這個方法,雖然沒有復雜的數據理論支撐,聽起來是不是就有那么一絲的合理?

在N多年的干擾抗干擾的設計審核整改經歷中,發現,其實絕大部分的EMC問題,也是如上類似的問題,原理設計和PCB設計就已經把分數給弄到了62分,EMC測試隨便加點干擾進去扣了3-5分,就低于60分表現出了癥狀。丟的38分您不關心,卻在EMC導致扣掉的這3-5分上可勁整改,有意思嗎?僅僅是因為是它讓您沒面子了嗎?至少6-8成的電磁兼容問題,其實質就是電路設計余量不足的問題。

如上方法,我自己瞎捉摸出來的,并且起了一個通俗的名字叫“60分原理”。如果在其它地方見到,請幫助申辯一下,我這兒是最初的出處。

審核編輯:黃飛

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原文標題:偶發、難再現、小概率的電路故障如何解決

文章出處:【微信號:FANYPCB,微信公眾號:凡億PCB】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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