廣立微DE-YMS助力靈動微電子挖掘MCU車規級芯片良率數據價值

MCU，助力物聯網智能化

MCU芯片是一種集成了中央處理器（CPU）、存儲器、輸入輸出接口和時鐘等關鍵組件的單片集成電路。它在各種嵌入式系統中得到廣泛應用，按位數可分為 4/8/16/32/64 位。其中32 位應用場景比較高端，主要用于智能家居、物聯網、電機及變頻控制、安防監控、指紋識別等重要領域。

近日，廣立微（Semitronix）與中國本土領先的通用 32 位 MCU 產品及解決方案供應商靈動微電子 (MindMotion)在良率數據管理分析業務領域達成合作：廣立微DATAEXP系列產品作為靈動微電子的良率數據分析管理工具，廣立微DE-YMS內置AEC-Q100車規芯片質量標準，為靈動微MCU芯片產品車規級認證分析提供助力。

01 DE-YMS為客戶業務報表搭建賦能

靈動微電子的工程師團隊利用廣立微DE-YMS自主搭建了WAT/CP/FT穩定性監測模版（良率趨勢圖、失效Bin趨勢圖、參數趨勢圖、參數CPK周期性報告OOS Summary），節約了數據清理和報告整理的時間，并可以根據自己設定的偵測規則快速定位是否有異常發生。

02 芯片全生命周期的數據管理、分析和追溯

靈動微電子的工程師團隊表示可利用YMS Dashboard的數據展示及分析模塊，高效地實現了多層面的異常分析。

例如，客訴發生時，YMS可以協助迅速找到失效樣品的所有數據信息，如批次、WAT、CP、FT等等是否有異常，實現全制程數據追蹤；DE-YMS可實現跨站關聯性分析，WAT參數與CP/FT各站點良率、失效Bin、參數相關性分析將幫助失效項原因追溯，不再是只見樹木不見森林，借助數據間的關系來對異常進行立體化診斷；同時DE-YMS良好的交互方式使得多維度探索變得便利，可以很輕松的進行測試廠之間，測試機之間，S2S之間的良率差異，參數差異，Bin分布差異，Map差異等比較分析。

03

用戶反饋

提升整體效益

模版定制使我們更多專注在數據分析上，省去了數據和報告整理的時間；良好的交互性使得探索更為便利，符合我們的工作習慣。

全面的數據分析

在功能方面，對參數的Sensitivity分析，非常便利地評估了參數在卡緊規格線后的良率損失。

另外，重測分析也有利評估測試效率，可以對測試質量進行很好的評估。

審核編輯：劉清