邏輯數字部分的自檢功能之LBIST

英飛凌的TC3xx系列是符合ASIL D的MCU，自身帶有很多自檢功能，今天我們來分享下LBIST，邏輯數字部分的自檢功能。代碼使用AURIX Development studio V1.8版本

TC334平臺LBIST簡介

英飛凌Aurix TC3xx作為滿足ASIL D的32位高性能MCU，提供了大量安全機制來覆蓋MCU不同的失效模式。針對潛在失效部分，TC3xx有PBIST（電源自檢），LBIST (邏輯自檢), MBIST(內存自檢)，MONBIST(二級電壓監控自檢)等特性來滿足客戶系統級的功能安全需求。

LBIST是一種片上硬件機制,可用于檢測MCU潛在故障。AURIX TC3xx平臺的LBIST實現允許對MCU邏輯執行定期自檢。LBIST在MCU應用模式下的執行基于為生產測試而實施的DFT結構,因此可重復使用MCU中已有的掃描鏈、控制和狀態機制。啟動LBIST有兩種可配置的方式:作為啟動序列的一部分或由MCU功能模式下的應用軟件啟動。LBIST的執行結果在LBIST結果和狀態寄存器中提供,應用軟件可利用這些結果在檢測到潛在故障時達到 MCU安全狀態。

LBIST功能開啟

LBIST執行函數存放于Ifx_Cfg_Ssw.c文件，根據函數定義只需將Ifx_Cfg_Ssw.h文件中的IFX_CFG_SSW_ENABLE_LBIST定義改為1，程序就會在SSW執行過程中進行邏輯自檢。

LBIST功能執行函數

默認值為0，寫1打開LBIST

結果驗證

期望簽名

LBISTDONE位顯示為1，表明自上電復位以來，至少有一次LBIST過程成功執行。且SCU_LBISTCTRL3.SIGNATURE為0x740ef25a，與期望配置中的簽名一致，代表邏輯自檢成功。

如若邏輯自檢不成功，則用戶在此處可以進行相關處理。

通過查看以上寄存器的的值，表明LBIST功能成功執行。

審核編輯：黃飛