長江存儲：QLC閃存已完成4000次P / E擦寫，采用第三代Xtacking技術

據臺灣媒體DIGITIMES 引述長江存儲的發言人稱，公司截至X3-6070QLC閃存已通過第三代Xtacking技術取得了3，000次P/E的擦寫壽命突破。

另外，結合消費級原廠TLC固態硬盤常見的3，000次以上P/E擦寫壽命表現進行對比，可以看出長江存儲的進展顯著。

值得注意的是，長江存儲首席技術官（CTO）霍宗亮指出，NAND閃存行業已經在飽受煎熬的2023年逐步復蘇，并有望在2023~2027年間實現21%的復合增長率以及20%的累計設備平均容量增長。

新的市場趨勢包括每GB成本的快速下降、讀寫性能持續增強以及如何滿足多元的客戶需求?？蛻粼敢飧冻鐾瑯拥拇鷥r換取更多存儲密度。

針對密度提升的問題，業界轉向QLC NAND的研發日益凸顯，特別是預計到2027年時，QLC的市占率將躍升至40%，遠超出過去的13%。

長江存儲強調，公司運用第三代Xtacking技術的X3-6070QLC閃存已經可以與上代產品相比表現出IO性能提升50%、存儲密度增加70%以及擦寫壽命達到4，000次P/E的可喜進步。

這項成果說明長江存儲的QLC技術已然成熟，為向企業級存儲和移動終端等多個領域拓展奠定了基礎。在場的憶恒創源在此次峰會上便選擇展示使用長存QLC閃存的PBlaze7 7340系列數據中心級固態硬盤。

在涉及QLC的技術細節上，Xtacking的CMOS電路和閃存陣列分離設計增加了算法的靈活性，進一步提高了QLC的可靠性。此外，依靠第三代Xtacking技術，可以實現更廣泛的電壓調制范圍，進一步提高了讀取窗口的可靠性。

長江存儲在大會現場還展出了PC41Q消費級QLC固態硬盤，其中，順序讀寫帶寬高達5500MB/s；長江存儲宣稱這款固態硬盤的數據穩定性及可靠性不亞于TLC固態硬盤，可實現30℃下連續兩年的數據保持以及長達200萬小時的無故障工作時間。