靜電的產生方式 靜電整改思路小結

一前言

靜電（static electricity）是在生產、生活中普遍存在的一種自然現象。上個世紀50年代初歐美各國已經開始在半導體器件生產中加以防范，我國在60年代末期才開始注意，80年代初真正用在半導體器件生產中。隨著現代電子信息產業的迅速發展，使微電子技術的發展突飛猛進，大規模集成電路和超大規模集成電路被廣泛的應用在航天、航空、計算機、程控交換機遙控技術領域，對防靜電技術的要求，提出了更高的要求。除了在生產運輸中需要做好靜電防護，在日常使用上也需要注意靜電帶來的危害。

二靜電的產生方式

1.接觸起電，當兩個物體接觸時，就會使其中一個物體失去電子而帶正電，而另外一個物體得到電子而帶負電，若在分離的過程中電荷難以中和，電荷就會積累使物體帶上靜電；

2.感應帶電：當帶電的物體接近不帶電物體時會在不帶電的物體兩端分別感應出正電荷和負電荷；

3.熱電和壓電起電噴射起電等。

三案例分享

下圖是客戶的一款產品，需要過接觸±6K。

1.摸底測試:

首先選取放電位置：USB端口、網口、HDMI端口、音頻端口。

測試現象：±6KV死機。

分析原因：斷電恢復，復位沒有反應，可能影響到主控模塊，干擾路徑未知。

2.排查測試:

（1）減小測試電壓，1KV逐級遞減直至出現機器可自行恢復。

（2）調整測試點位，從端口改為靠近（或遠離）主控部分的地，同時注意泄放路徑。

（3）考慮散熱金屬的影響，去掉散熱金屬和帶散熱金屬的測試對比。

3.測試結果：

（1）測試電壓減小至4KV機器可以自動恢復，現象等級為B級。

（2）遠離主控點測試現象正常，靠近主控現象更加嚴重，確定是主控受到干擾。

（3）拆除散熱金屬4KV無異常，6KV可自動恢復，判斷金屬散熱片影響較大。

基于上述測試結果，判斷金屬散熱片耦合到靜電產生較強的電磁場，導致芯片受到影響，產生死機現象。

4.整改措施：

如圖所示，最終的整改措施加屏蔽。把散熱金屬下方的都用銅箔屏蔽，且銅箔與芯片之間保持一定的高度（如導熱硅膠）。

四總結

靜電是電子產品的隱形殺手，它的隨機性、隱蔽性和復雜性都會加劇它整改難度，怎么排除干擾相在這個時候就顯得尤為重要。

1.根據現象，判斷受干擾的模塊；

2.適當減弱測試電壓，調整測試點位來鎖定問題點；

3.適當排除受干擾模塊周邊設備；

總之，對整改靜電可以大膽假設，小心求證，保證設備的完整性測試，避免打壞設備，畢竟靜電測試屬于破壞性測試。

審核編輯：劉清