了解一下3GPP NTN射頻標準（SAN的功率要求）

接上一周的內容，本周我們來了解一下SAN的功率測試要求。分傳導和輻射兩個大類。

01

傳導發射功率要求

在之前的學習中我們了解到，對于1-H類型的SAN來說，有很多的傳導連接口：一起來學3GPP NTN射頻標準（SAN的類型和等級）。如果這些連接口被聲稱是等效的，那么在一致性測試中，只需挑選其中具有代表性的一個，來進行測試即可。

以下是1-H類型SAN的不同功率等級對應的傳導功率技術要求（最小要求）：

我們來解釋一下里面所使用的符號：

Prated,c,sys：所有端口總功率，包含Prated,c,sys,GEO和Prate,c,sys,LEO；
Prated,c,sys,GEO：用于SANGEO等級單個載波的所有TAB連接器的Prated,c,TABC之和；
Prated,c,sys,LEO：用于SANLEO等級單個載波的所有TAB連接器的Prated,c,TABC之和；
Prated,c,TABC：單個端口功率，包含Prated,c,TABC,GEO和Prated,c,TABC,LEO；
Prated,c,TABC,GEO：用于SANGEO類別的每個TAB連接器的額定載波輸出功率；
Prated,c,TABC,LEO：用于SANLEO類別的每個TAB連接器的額定載波輸出功率。

以上技術要求，既有總功率要求Prated,c,sys，也有單個天線端口功率要求Prated,c,TABC。而且這些要求都是基于廠家的聲明，且必須符合相關的管理規定要求。說白了3GPP并未給出SAN輸出功率的絕對限值，而給出的是：在正常測試條件下，每個TAB 連接器的最大輸出功率 Pmax,c,TABC應保持在制造商聲明的額定載波輸出功率 Prated,c,TABC 的 +2 dB 和 -2 dB 范圍內。這個測試目的是在正常條件下驗證整個頻率范圍內最大載波輸出功率的準確性。

技術要求的范圍是±2dB，我們再來看一下測試要求（至于測試要求和技術要求的區別，我們在前面學習終端測試的時候已經多次提到，這里就不再重復）。對于1-H 型 SAN的每個單頻連接器端口，測量每個被測連接器上每個載波的最大載波輸出功率Pmax,c,TABC，在正常測試環境下應保持在制造商聲明值Prated,c,TABC的±2.7dB范圍內。

1-H類型SAN最大傳導功率容限測試要求：
  f≤3GHz：± 2.7dB@正常測試環境下

對于測試的方法可以使用以下兩種方式：一是每次測一個端口，對其他端口進行負載端接，如下圖所示：

二是同時測量多個端口，如下圖所示。但需要構建測試系統來相應實現。

以上所述均為基于5G NR的SAN功率的要求。針對基于4G的SAN傳導功率要求，其他的都一樣，唯一不同的是對于standalone NB-IoT，功率容限的測試要求降低為±3.0dB ：

SANtype1-H：
  f ≤ 3 GHz:
    ±2.7dBforE-UTRA
  ±3.0dBforstandaloneNB-IoT

02

輻射發射功率要求

輻射測試功率分為EIRP和TRP兩個測試項，在標準中分別稱為Radiatedtransmit power和OTAoutput power。關于EIRP和TRP的概念，我們在前面的學習中已經提到過多次，這里就不過多解釋了。對于EIRP，1-H和1-O類型都需要測，它的技術要求的容限值仍舊是以聲稱值作為基準，±2.2dB。

對于EIRP的測試要求為±3.3 dB：

SAN type 1-H, SAN type 1-O：EIRP
  f ≤ 3 GHz: ± 3.3 dB

TRP只有1-O類型需要進行測試，在正常情況下，在 RIB 測得的 SAN 1-O 型最大載波 TRP 輸出功率 Pmax,c,TRP應保持在制造商宣布的額定載波 TRP 輸出功率 Prated,c,TRP的 ±2 dB 范圍內。

對于TRP的測試要求為在制造商宣布的額定載波 TRP Prated,c,TRP載波頻率 f ≤ 3.0 GHz 的 ±3.4 dB 范圍內；

SANtype1-O TRP：
f≤3GHz:±3.4dB

以上均為基于5G NR的SAN輻射功率技術要求和測試要求。

針對基于4G的SAN輻射功率，技術要求是相同的，不同點在于測試要求的容限，EIRP的測試容限為：

SAN type 1-H, SAN type 1-O 
 f ≤ 3 GHz:
±3.3dBforE-UTRA
±3.6dBforstandaloneNB-IoT

最終TRP測量結果應保持在制造商聲明的額定載波TRP功率Prated,c,TRP 的以下測試容限范圍內：

SAN type 1-O 
 f ≤ 3 GHz:
±3.4dBforE-UTRA
±3.7dBforstandaloneNB-IoT

以下是輻射測試的環境示意圖：

審核編輯：劉清