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功率半導體冷知識:IGBT短路結溫和次數

jf_pJlTbmA9 ? 來源: 英飛凌工業半導體 ? 作者: 英飛凌工業半導體 ? 2023-12-15 09:54 ? 次閱讀

作者:陳子穎 ,來源: 英飛凌工業半導體

IGBT短路特性

英飛凌IGBT模塊開關狀態下最高工作結溫一般是150度,而IGBT7短時過載情況下的最高工作結溫可達175度。那么IGBT模塊一輩子都可以生活在這樣的舒適區享受人生嗎?

不!模塊出生后2年內必然要走上社會。在裝上整機踏上社會的一刻,往往要經歷短路試驗這一關。IGBT的底氣不足或系統保護不給力,就會夭折。

IGBT在十年甚至幾十年的開關高壓大電流的生涯中,被短路是難免的,不幸可能是來自系統和外部干擾,甚至是人為操作失誤。

IGBT是允許短路的,完全有這樣的底氣,EconoDUAL?3 FF600R12ME4 600A 1200V的數據手冊是這樣描述短路能力的,在驅動電壓不超過15V時,短路電流典型值是2400A,只要在10us內成功關斷短路電流,器件不會損壞。注意,短路標定的起始溫度是150度,那么短路過程中的結溫會飆到多高呢?

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二級管發生浪涌時會超過最高工作結溫嗎?

為了理解IGBT短路時的溫度,先研究一下二極管的浪涌電流,我們一起來讀一段Lutz老師的《功率半導體器件-原理、特性和可靠性》一書,他闡述了快恢復二級管浪涌電流下的芯片內部的溫度。

書中有個有趣的例子,這是1200V快恢復二極管,面積49mm2,焊在0.63mm DCB上,浪涌電流寬度7.5ms,峰值功率3060W,這時n-有源層溫度高達385度,這還在破壞極限以下,(FRD的浪涌電流是額定電流的10-12倍),對半導體本身還不會產生不可逆轉的改變,但芯片焊料層的溫度也達到186度,這已經很邊界了,可能會造成封裝的不可逆轉的改變,所以說浪涌電流容量適用于非正常過載事件,而不是功率半導體正常工作狀態。

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浪涌電流和電壓波形

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仿真的溫度(Si aktiv硅有源區)

IGBT短路時的溫度知多少

在英飛凌早年的文章找到短路時的溫度仿真曲線,比較了IGBT2 NPT和IGBT3短路時的溫度,可以看到短路起始溫度Tvj=175度時,短路時的最高溫度360度和461度之高。

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那么溫度是怎么分布的呢?

芯片縱向的溫度分布,1200V IGBT在400V時短路,起始溫度是26度,4.5us時,芯片背面發射極溫度77度,芯片集電極側167度,由于短路芯片里的電流呈絲狀,使熱量集中于一點,電流絲溫度高達367度,但最高點是表面下面一點。

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IGBT可以短路100次嗎?

短路瞬間功耗很大,結溫會遠超允許工作結溫,那么短路次數可以是多少呢?

故事1:

2003年英飛凌寫過一篇文章,給出了有參考價值的實驗數據:

實驗是基于3600A 1200V TRENCHSTOP IGBT3,VGE=15V,最高工作結溫做短路測試,實際短路波形如圖,短路脈沖10us,周期1/3Hz,在這樣的短路條件下,最高瞬態功耗高達3MW!

4個模塊共短路9萬次沒有問題。

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當年的實驗用業內做大電流規格的3600A 1200V模塊

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短路波形,短路電流近萬安培

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4個模塊的短路次數

故事2:

Lutz專著中闡述到,短路時存儲的能量不能超過臨界能量Ec,對于短路事件重復、長時間的測試結果表明:在器件不被損壞的前提下,重復次數可以高達10000次。對于研究的600V IGBT來說,短路失效完全來自于熱。此外需要特別注意的是在大量的短路脈沖后,在低于臨界能量Ec情況下,IGBT的漏電流,閾值電壓沒有變化,然而,隨著脈沖次數的增加,正向壓降Vce增加,短路電流Isc減小。失效分析表明,大約10000周次后,鋁金屬化層電阻率增加,鋁重構引起的芯片金屬化層嚴重退化,并且鍵合線也退化。

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24600次短路造成的鋁重構

必懂知識:

數據手冊怎么說?

IGBT單管舉例:IKW25T120,25A 1200V單管的數據手冊規定了短路次數小于1000次,間隔大于1秒。

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結論

毋庸置疑,IGBT短路是兇險工況,而在很多應用中不能避免,承受短路電流造成的瞬時功率和極端高溫,需要芯片和器件承擔。對于系統設計工程師就要考慮:

1. 短路工況極其復雜,不是設計出來的,都是意外

2. 器件在短路時可能損壞,選擇能承受短路電流,工藝穩定的可靠器件

3. 系統設計做好檢測與保護

參考資料

1.REPETITIVE SHORT CIRCUIT BEHAVIOUR OF TRENCH-/FIELD-STOP IGBTS

2.Experimental behavior of single chip IGBT and CoolMOS? devices under repetitive short-circuit condition

3.Short Circuit Properties of Trench-/Field-Stop-IGBTs –Design Aspects for a Superior Robustness

4.Aluminium Modification as Indicator of Current Filaments in IGBTs under Repetitive Short-Circuit Operation

審核編輯 黃宇

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