<acronym id="s8ci2"><small id="s8ci2"></small></acronym>
<rt id="s8ci2"></rt><rt id="s8ci2"><optgroup id="s8ci2"></optgroup></rt>
<acronym id="s8ci2"></acronym>
<acronym id="s8ci2"><center id="s8ci2"></center></acronym>
0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

銅線鍵合設備焊接一致性探索

1770176343 ? 來源:半導體封裝工程師之家 ? 2023-10-31 14:10 ? 次閱讀

摘要:

相對于傳統金線鍵合,銅線鍵合設備焊接過程工藝窗口更小,對焊接的一致性要求更高。通過對銅線鍵合工藝窗口的影響因素進行分析,探索了設備焊接過程的影響和提升辦法,為銅線鍵合技術的推廣應用提供技術指導。

隨著電子信息技術飛速發展,集成電路封裝高密度、高強度、低成本等要求越來越高。傳統的引線鍵合工藝主要采用金線鍵合,但隨著金價的上漲及其本身特性限制,越來越難以滿足日益增長的市場需要。近年來,銅線因其成本較低、自身優良的導電性和導熱性以及穩定性等特點受到越來越多的關注,并有逐步取代主流的金線鍵合。銅線本身在高溫下易氧化和高硬度的特性給鍵合工藝帶來很多不穩定因素,容易造成打線不粘、彈坑等失效模式,這對銅線鍵合設備焊接一致性提出了較高的要求。

1 設備焊接一致性

設備焊接一致性(Bonding Consistency)一般是指某一給定的工藝,只需設定一套工藝參數,便可在多臺設備上進行生產,取得相同的結果。對于半導體封裝的鍵合來講,常用于鍵合一致性測定的典型要素有:焊球大?。˙onded Ball Size)、焊球高度(Bonded Ball Height)、焊絲破斷強度(Wire Pull Strength)和剝離強度(Ball Shear Strength)。

由圖 1 可以看出,對于金線鍵合,球徑和單位面積剝離強度在較高的超聲信號發生器(USG)電流時有可能失效。而對于銅線鍵合,僅使用球徑或者單位面積剝離強度不能完全界定最高的 USG 電流。在給定 USG 設定下,更強的剝離強度可能附加擠鋁(Al Splash)現象的產生,從而導致焊盤破損。

68e2fbf6-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

銅線比金線硬度高出 40%~60%,所以銅線鍵合時會有金線鍵合時未曾出現的問題發生,如:額外的擠鋁導致短路、焊盤破損、焊盤開裂或剝落、烘烤過后或拉力測試中焊球脫落或焊墊剝落。對于銅線鍵合來說,設備焊接的一致性非常關鍵,因為在焊球脫落(較低 USG)到焊墊剝落或破損(較高 USG)之間的 USG 工藝范圍很小。

2 銅線鍵合的工藝窗口

為取得某一個工藝而設定的參數范圍被稱之為工藝窗口。銅線鍵合后的產品通過破壞性試驗后的 IMC、Al Splash、Crack、Pull Test 來判定結合面的焊接質量,由圖 2 分析可知,銅線鍵合受多因素綜合影響后的工藝窗口相對較小。金線鍵合和銅線鍵合的工藝窗口對比如表 1、表 2所示。

68ed7892-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

68f8f7d0-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

將相同的焊接程序裝載到三臺同類型的設備上,往往會出現圖 3 左側的結果,能滿足三臺設備使用相同參數生產的工藝窗口很小。需要考慮的是如何將工藝窗口統一到圖 3 右側的狀態,實現設備焊接一致性基礎上的工藝窗口最大化。

假設三臺設備的硬件和設置都沒有問題,那我們應該怎么做:重新收集數據?重新優化焊接程序以獲得更寬的工藝窗口?重新校準設備 USG CF(USG Current Factor)?如果使用到更多設備上將有什么結果?如何改進到量產中?

691df580-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

3 影響一致性的關鍵因素

根據上面的工藝窗口現狀,有必要分析影響設備一致性的因素。

(1)在使用同一設備、劈刀和焊線的情況下,對 6 種不同的框架芯片材料進行打線試驗,USG CF 從小到大變化時可以發現存在對材料差異性的不同敏感度。焊盤剝落(Pad Peel) 在較大的USG CF 時發生增多,但不同材料間差異相對較小,而焊球脫落(Ball Lift)現象在不同材料的差異性及較低USG CF 設置時尤其明顯,如圖 4所示。

6927058a-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

2)使用同一的設備、操作人員、材料、焊線的情況下,使用 6 種不同的劈刀進行打線確認對劈刀差異性的敏感度不同。相比于材料的差異性,不同的 USGCF 值,不同劈刀的差異性低很多。只有CF 設定在最高和最低點時才能表現出來,如圖 5所示。

693bf0f8-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

(3)在其他條件都不變的情況下,考慮不同焊線直徑和設備燒球 Electronic Flame Off(EFO)電流大小對焊球直徑的差異性影響,焊球直徑差異性將體現在焊絲破斷強度和剝離強度上。由圖 6可見,在使用 260 μs EFO 時間對線徑 20 μm±1 μm 以內規格的焊線進行打火,焊接結果(球高、球徑)差異較大。線徑越大,焊球尺寸和厚度就越小。而由于 EFO 燒球時間不充分,較粗的線徑時不能形成正常的焊球,同時由于焊球的接觸面積較小,單位面積的剝離強度增加明顯,如圖 6 所示。

694d5a00-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

4 設備焊接一致性改善

通過對設備焊接一致性影響的關鍵因素分析發現,為了在規模生產中取得穩定的表現,必須對USG 進行設置和校準?!靶省本褪且屜嗤愋偷脑O備在同一 USG 電流輸入時取得同樣的焊接結果。對于設備而言我們稱之為“USG Current Factor”或 USG CF。

CurrentFactor 的設置以往主要有 GAP 感應器法、工藝敏感性測試 PST 法和拉線 ICF 法三種方法,每種方法都試圖在給定的 USG 設定范圍內提高一致性,但也都存在易受外界干擾和耗時較長等不足。

采用新的在線校正方法 OBPF (On Bonder Personality Factor)進行 USG CF 校準,其最大優勢完全在焊線機上實現,無需增加另外的設備或測試儀器,在實際焊接中使用一種運算法則進行采集數據、表現分析和建議 Current Factor。這種方法消除了以往 CF 校準方法的不足,并進一步提高CF 校準的一致性。

如圖 7 所示,按照菜單提示執行 USG CF 校準,設備自動載入標準打線程序,在標準材料上運行打線 800 根絲后焊線機會根據設備狀況自動進行計算 USG CF 結果。

6959e7a2-779b-11ee-939d-92fbcf53809c.png

在實際使用過程中,通過 OBPF 校準功能利用焊接反應來校準設備 USG CF,將影響 Current Factor 準確度的因素最小化,同時大大縮短校準所花費的時間。

5 結束語

成功的銅線焊接要從工藝研發走向規模生產,必須對焊墊開裂檢查、鋁擠出測量、IMC 測量和截面檢查等應用難點進行研究,找出限制工藝窗口的影響因素。鋁墊越薄越容易開裂或剝落,鋁墊越厚,越容易產生鋁擠出。規模生產中需要較大的工藝窗口適應各種差異性,這是焊接工藝成功的關鍵。在驗證設備焊接一致性的基礎上取得可接受的工藝窗口,通過 OBPF 校準設備 USG CF,改善了影響設備焊接一致性的關鍵因素,在多臺設備上實現了工藝參數微調,批量生產工藝更穩定。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 集成電路
    +關注

    關注

    5333

    文章

    10896

    瀏覽量

    354515
  • 半導體
    +關注

    關注

    329

    文章

    25076

    瀏覽量

    204106
  • 封裝
    +關注

    關注

    124

    文章

    7365

    瀏覽量

    141274
  • 焊接
    +關注

    關注

    38

    文章

    2793

    瀏覽量

    58461

原文標題:銅線鍵合設備焊接一致性探索

文章出處:【微信號:半導體封裝工程師之家,微信公眾號:半導體封裝工程師之家】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    銅線鍵合焊接一致性:微電子封裝的新挑戰

    直接影響到芯片與基板之間的連接強度和電氣導通性,還關系到電子產品的整體性能和可靠性。因此,本文將從焊接一致性的角度出發,對銅線鍵合設備進行深入探索
    的頭像 發表于 03-13 10:10 ?895次閱讀
    <b class='flag-5'>銅線</b>鍵合<b class='flag-5'>焊接</b><b class='flag-5'>一致性</b>:微電子封裝的新挑戰

    串行ATA一致性測試速查資料

    串行ATA一致性測試速查資料串行ATA 一致性測試解決方案一致性測試速查資料SATA Gen1 和Gen2 主機、設備和電纜全自動測試解決方案TekExpressTM 串行ATA 自動
    發表于 11-26 09:52

    相位一致性邊緣檢測

    大家起探討相位一致性邊緣檢測,求指導
    發表于 06-11 13:38

    一致性測試

    誰有聚星公司射頻一致性測試的程序啊,求個做參考,!
    發表于 07-14 18:11

    c6678cache一致性

    專家您好! ? ?我現在在做6678 cache一致性的東西,想請問一下一致性的維護哪些是硬件實現的,哪些需要程序員實現?謝謝!
    發表于 06-24 04:38

    CAN一致性測試—容錯測試

    ,就可以進行一鍵自動化測試,完整顯示測試結果、數據、波形截圖等數據內容,工程師可快速判斷被測設備的CAN總線質量。 CANDT一致性測試系統基于CANScope底層分析能力,集成示波器、電源等必要
    發表于 11-22 16:36

    LTE基站一致性測試的類別

    就LTE基站而言,RF測試方法與一致性要求至為關鍵,然而,調變格式、帶寬、資源分配與移動導致選項復雜度增加,因此優化的一致性測試配置參數組合需求更為殷切。第三代合作伙伴項目(3GPP)長期演進計劃
    發表于 06-06 06:41

    USB2.0一致性測試方案

    ea.)—TCA-BNC轉接頭(2 ea.)—TCP202電流探頭>軟件—TDSUSB2應用軟件—USBHSET軟件(測試高速設備使用該軟件)>TDSUSBF一致性測試夾具測試碼型: 測試夾具:
    發表于 09-26 10:25

    MIPI一致性測試

    MIPI一致性測試測試項目:> TX測試;> RX測試;> S參數和阻抗測試;> DigRF,Unipro和LLI的測試;測試環境: MIPI測試對示波器帶寬的要求 >
    發表于 09-26 13:31

    Infiniium一致性測試軟件

    Infiniium 一致性測試軟件
    發表于 10-28 17:28

    什么是霍爾元件的一致性

    什么是霍爾元件的一致性?霍爾開關元件主要是通過感應磁性來進行開關機,霍爾元件本身又屬于無觸點開關,因此具有感應距離?;魻栭_關都有個觸發值和釋放值,觸發值是指霍爾元件表面達到參數磁性大小,霍爾元器件
    發表于 10-12 09:34

    為什么需要進行WiMAX協議一致性測試?

    為什么需要進行WiMAX協議一致性測試看完你就知道
    發表于 04-15 06:16

    如何確保藍牙設計通過EMI一致性測試 ?

    選擇藍牙模塊時需要考慮哪些因素?如何確保藍牙設計通過EMI一致性測試 ?
    發表于 05-07 06:25

    如何實現信號電壓幅值的一致性?

    如何實現信號電壓幅值的一致性?
    發表于 05-20 07:23

    順序一致性和TSO一致性分別是什么?SC和TSO到底哪個好?

    內存一致性之順序一致性(sequential consistency)可以說,最直觀的內存一致性模型是sequentially consistent(SC):內存訪問執行的順序與程序指定的順序相同
    發表于 07-19 14:54
    亚洲欧美日韩精品久久_久久精品AⅤ无码中文_日本中文字幕有码在线播放_亚洲视频高清不卡在线观看
    <acronym id="s8ci2"><small id="s8ci2"></small></acronym>
    <rt id="s8ci2"></rt><rt id="s8ci2"><optgroup id="s8ci2"></optgroup></rt>
    <acronym id="s8ci2"></acronym>
    <acronym id="s8ci2"><center id="s8ci2"></center></acronym>