ATE/ATS內部結構簡介

ATE/ATS：自動測試設備/自動測試系統，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要求進行了簡明扼要的論述，以便測試工程師了解、掌握。

通常將在計算機控制下，能自動進行各種信號測量、數據處理、傳輸，并以適當方式顯示或輸出測試結果的系統稱為自動測試系統，簡稱ATS（Automated
Test System），這種技術我們稱之為自動測試技術。

在自動測試系統中，整個工作都是在預先編制好的測試程序統一指揮下完成的，系統中的各種儀器和設備是智能化的，都可進行程序控制。

自動測試系統（ATS）是一個不斷發展的概念，隨著各種高新技術在檢測領域的運用，它不斷被賦予各種新的內容和組織形式。自動測試技術創始于20世紀50年代，從20世紀50年代至21世紀的今天，大致分為以下三代。

?第一代自動測試系統是根據測量任務專門設計的，主要用計算機技術來進行邏輯定時控制，主要動能是進行數據自動采集和自動分析，完成大量重復數據的測試工作，承擔繁重的數據運算和分析任務。系統中的儀器采用專用接口，因此系統較為復雜，通用性差，不利于自動測試系統的推廣應用。

?第二代自動測試系統是盡可能利用現成的儀器設備，再利用計算機來共同組建成所需要的自動測試系統。為了系統組建方便，第二代自動測試系統中的儀器采用了標準化的通用接口，這樣就可以把任何一個廠家生產的任何型號的可程控儀器連接起來形成一個自動測試系統。第二代自動測試系統示意圖如圖9-1所示。系統的典型方框圖9-2所示。

圖中表明，當前的自動檢測系統，通常包括以下幾個部分。

?（1）控制器

?（2）激勵信號源

?（3）測量儀器

?（4）開關系統

?（5）適配器

?（6）人機接口

?（7）檢測程序

?第三代自動測試系統
大體說來，它也是由微型計算機、通用硬件系統和軟件系統三部分組成。但是，第三代自動測試系統主要體現以軟件控制、以功能組合方式實現的合成儀器自動測試技術，以高速A/D、D/A和DSP芯片為基礎組成通用測試儀器硬件系統（即通用硬件部分，結構如圖9-3所示），而測試/測量任務的實現以及系統升級完全依靠軟件來實現（即軟件系統部分，如圖9-4所示）。