晶振可靠性振動測試實驗
晶振在設計和使用過程中，在經受自身，外部環境，以及機械環境的影響下，仍然可以正常的工作。今天凱擎小妹分享的“振動試驗”就屬于機械環境的一部分：
高低頻振動測試
確定晶振對在現場使用中可能經受到的主要振動的適應性和結構的完好性。具體可參考 GJB360B.201/ 204。
隨機振動測試
確定晶振受隨機振動環境應力的適應性及結構的完好性。隨機振動代表了導彈、噴氣機和火箭發動機等產生的振動環境。晶振按GJB 360B.214方法試驗。
試驗說明
本試驗可以使用“電磁式振動試驗機”，設置試驗振動頻率10Hz—2000Hz—10Hz(低頻在10Hz-55Hz范圍內采用201方法)；每個循環掃描時間20min；三個互相垂直方向(x,y,z)上進行振動試驗，各做12個循環。
總試驗時間:3*12*20/60=12hrs
將試驗品焊接在PCB板進行試驗，
對于普通產品，幅度/加速度為1.52mm/20g。
本試驗對晶振的影響
晶體諧振器:頻率升高1ppm左右,(5ppm max);諧振阻抗增大4Ω左右, 5max or +10%;
晶體振蕩器:頻率降低2ppm左右, (5ppm max)。
審核編輯：劉清
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原文標題：晶振可靠性測試：振動試驗
文章出處：【微信號：koan-xtal，微信公眾號：KOAN晶振】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。
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