Toshiba推出適用于半導體測試儀高頻信號開關的小型光繼電器

Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation ("Toshiba")日前推出了"TLP3475W"。這款光繼電器采用小巧輕薄的WSON4封裝，可降低插入損耗并抑制高頻信號[1] 的功率衰減，適用于使用大量繼電器并需要高速信號的半導體測試儀引腳電子裝置。該產品即日起開始批量發貨。

Toshiba的優化封裝設計減少了新款光繼電器中的寄生電容和電感。這降低了插入損耗，將高頻信號的傳輸特性提高到20GHz（典型值） [2]，比Toshiba當前產品TLP3475S低約1.5倍[2]。

TLP3475W采用小巧輕薄的WSON4封裝，厚度僅為0.8毫米（典型值），使其成為業內最小的 [3]光繼電器，從而實現了更好的高頻信號傳輸特性。與Toshiba的超小型S-VSON4T封裝相比，它的高度降低了40%，從而可以在同一電路板上安裝更多產品，并有助于提高測量效率。

Toshiba將繼續擴大其產品陣容，以支持速度更快、功能更多的半導體測試儀。

應用

半導體測試儀（高速存儲器測試儀、高速邏輯測試儀等）

探針卡

測量設備

特性

業界最小的[3]WSON4封裝：1.45mm×2.0mm（典型值），t=0.8mm（典型值）

改善高頻信號通過特性：f=20GHz（典型值）@插入損耗(S21) = -3dB

常開功能(1-Form-A)

備注：

[1] 當頻帶在幾百兆赫至幾十兆赫范圍內時。
[2] 信號通過輸出MOSFET時，信號功率衰減比（插入損耗）為-3dB的頻段。
[3] 針對光繼電器。截至2023年10月的Toshiba調查。

主要規格