<acronym id="s8ci2"><small id="s8ci2"></small></acronym>
<rt id="s8ci2"></rt><rt id="s8ci2"><optgroup id="s8ci2"></optgroup></rt>
<acronym id="s8ci2"></acronym>
<acronym id="s8ci2"><center id="s8ci2"></center></acronym>
0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

激光共聚焦顯微鏡原理

中圖儀器 ? 2023-05-31 14:21 ? 次閱讀

激光共聚焦顯微鏡主要采用3D捕獲的成像技術,它通過數碼相機針孔的高強度激光來實現數字成像,具有很強的縱向深度的分辨能力。

原理

共焦顯微鏡裝置是在被測對象焦平面的共軛面上放置兩個小孔,其中一個放在光源前面,另一個放在探測器前面,如圖所示。

poYBAGPhwzmATL-2AAG7aaDbbkc414.png共焦顯微鏡光路示意圖

得到的圖像是來自一個焦平面的光通過針孔數碼相機聚焦拍攝,通過所累積的不同焦平面的圖像序列,使用軟件編譯完整的 3d 圖像。

共焦顯微鏡系統所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。傳統光學顯微鏡上常配備靈敏度較低的CCD相機來采集圖像,對于低照度的光,如熒光無法探測到,而共聚焦顯微鏡系統使用的探測元件是高靈敏度的光電倍增管,對微弱的熒光信號可以呈現出很高的靈敏度,并且還可以通過縮小激發范圍并使用光學切片來消除背景噪聲。

在相同物鏡放大的條件下,激光共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高。如同為微納檢測的利器,共聚焦顯微鏡卻是與白光干涉儀有著諸多不同,如果用一個字眼來形容,那么白光干涉儀是“文”,而共聚焦顯微鏡是“武”。白光擅長亞納米級超光滑表面的檢測,追求檢測數值的精準;而共聚焦擅長微納級粗糙輪廓的檢測,雖在檢測分辨率上略遜一籌,但能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。

VT6000系列共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數,能對各種產品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

poYBAGPccfGAJE91AAI3wHSm_0c313.png

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 測量
    +關注

    關注

    10

    文章

    4316

    瀏覽量

    109912
  • 顯微鏡
    +關注

    關注

    0

    文章

    468

    瀏覽量

    22649
  • 三維形貌
    +關注

    關注

    0

    文章

    10

    瀏覽量

    5688
  • 粗糙度
    +關注

    關注

    0

    文章

    9

    瀏覽量

    7963
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    激光共聚焦和白光干涉儀哪個好?

    激光共聚焦和白光干涉儀哪個好?在精密測量領域,激光共聚焦顯微鏡和白光干涉儀是兩種不同的高精度光學測量儀器。它們各自有著獨特的應用優勢和應用場景。選擇哪種儀器更好,取決于具體的測量需求和樣品特性
    發表于 05-06 09:41 ?0次下載

    激光共聚焦和白光干涉儀哪個好?

    在精密測量領域,激光共聚焦顯微鏡和白光干涉儀是兩種不同的高精度光學測量儀器。它們各自有著獨特的應用優勢和應用場景。選擇哪種儀器更好,取決于具體的測量需求和樣品特性。在選擇適合特定應用的技術時,需要
    的頭像 發表于 04-24 11:45 ?350次閱讀
    <b class='flag-5'>激光</b><b class='flag-5'>共聚焦</b>和白光干涉儀哪個好?

    激光共聚焦顯微鏡測粗糙度,解讀表面粗糙度的科技利器

    激光共聚焦顯微鏡(Laser Scanning Confocal Microscope,簡稱LSCM)是一種光學顯微鏡,通過激光束的聚焦和散射技術,能夠實現高分辨率的三維圖像采集和表面
    發表于 04-16 10:42 ?0次下載

    共聚焦顯微鏡激光共聚焦顯微鏡的區別詳解

    。共焦顯微鏡通常使用白光或者非激光光源,不一定需要激光;激光共聚焦顯微鏡是一種特殊類型的共焦顯微鏡,它使用
    發表于 04-16 10:40 ?0次下載

    激光共聚焦顯微鏡測粗糙度,解讀表面粗糙度的科技利器

    激光共聚焦顯微鏡通過激光聚焦和散射技術實現高分辨率三維圖像采集和表面測量,具有高分辨率、三維測量、非接觸測量和實時成像等優勢,廣泛應用于材料表面粗糙度測量、形貌分析等領域,具有重要地位和廣闊應用前景。
    的頭像 發表于 04-08 15:20 ?391次閱讀
    <b class='flag-5'>激光共聚焦顯微鏡</b>測粗糙度,解讀表面粗糙度的科技利器

    共聚焦顯微鏡激光共聚焦顯微鏡的區別詳解

    共焦顯微鏡通常使用白光或者非激光光源,不一定需要激光;而激光共聚焦顯微鏡通常用于獲取三維圖像和進行表面粗糙度分析等應用,對于要求更高分辨率和更精細結構分析的樣品有更大的優勢,如在材料科
    的頭像 發表于 04-07 09:45 ?475次閱讀
    <b class='flag-5'>共聚焦</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>和<b class='flag-5'>激光共聚焦顯微鏡</b>的區別詳解

    激光共聚焦顯微鏡:材料表面粗糙度的救星

    等問題,無法滿足精細材料表面的檢測需求。而激光共聚焦顯微鏡以其高分辨率、高靈敏度和高測量速度等優勢,成為材料表面粗糙度檢測的得力工具。為什么要選擇共聚焦顯微鏡測粗糙度?激光共聚焦顯微鏡
    發表于 01-18 10:53 ?0次下載

    激光共聚焦顯微鏡:材料表面粗糙度的救星

    激光共聚焦顯微鏡因其高分辨率、高靈敏度和高測量速度,成為材料表面粗糙度檢測的理想工具。它可解決傳統方法的局限,如對微小結構或曲面表面的測量問題,并適用于多種材料。該顯微鏡能獲取三維形貌信息,為粗糙度評價提供全面數據支持。
    的頭像 發表于 01-15 09:05 ?405次閱讀
    <b class='flag-5'>激光共聚焦顯微鏡</b>:材料表面粗糙度的救星

    激光共聚焦顯微鏡選購指南:如何選擇適合需求的品牌和型號?

    在現代工業領域,激光共聚焦顯微鏡扮演著至關重要的角色。這種高端顯微鏡不僅能夠提供高清晰度的成像效果,還能夠實現高倍率的變焦功能。然而,由于市場上品牌和型號眾多,如何選擇一款適合自己需求的激光共聚焦顯微鏡?
    的頭像 發表于 11-07 09:34 ?739次閱讀
    <b class='flag-5'>激光共聚焦顯微鏡</b>選購指南:如何選擇適合需求的品牌和型號?

    白光干涉儀和激光共聚焦顯微鏡哪個好?

    白光多用于測量大范圍光滑的樣品,尤其擅長亞納米級超光滑表面的檢測,追求檢測數值的準確;而共聚焦更容易測陡峭邊緣,擅長微納級粗糙輪廓的檢測,雖在檢測分辨率上略遜,但成像圖色彩斑斕,便于觀察。
    的頭像 發表于 11-07 09:24 ?794次閱讀
    白光干涉儀和<b class='flag-5'>激光共聚焦顯微鏡</b>哪個好?

    白光干涉儀在半導體封裝中對彈坑的測量

    激光共聚焦顯微鏡等,以獲得更全面的形貌信息。(激光共聚焦顯微鏡共聚焦技術為原理,更容易測陡峭邊緣,擅長微納級粗糙輪廓的檢測,雖在檢測分辨率上略遜,但成像圖色彩斑斕,便于觀察。)
    發表于 11-06 14:27

    納米級測量儀器:窺探微觀世界的利器

    表面輪廓儀以白光干涉技術原理,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。2、激光共聚焦顯微鏡VT6000激光共聚焦顯微鏡以轉盤
    發表于 10-11 14:37

    為什么激光共聚焦顯微鏡成像質量更好?

    激光共聚焦顯微鏡原理是由LED光源發出的光束經過一個多孔盤和物鏡后,聚焦到樣品表面。之后光束經樣品表面反射回測量系統。再次通過MPD上的針孔時,反射光將只保留聚焦的光點。最后,光束經分光片反射后在
    發表于 08-22 15:19

    為什么激光共聚焦顯微鏡成像質量更好?

    VT6000激光共聚焦顯微鏡采用了激光掃描技術,具有的大光學孔徑(顯微鏡接收到樣品發出的光的能力)和高數值孔徑物鏡(鏡頭的放大倍數),使成像更清晰細致。
    的頭像 發表于 08-22 09:09 ?641次閱讀
    為什么<b class='flag-5'>激光共聚焦顯微鏡</b>成像質量更好?

    芯明天壓電物鏡定位器應用于半導體晶圓質量檢測系統

    隨著半導體產業的發展和制造工藝的發展,對晶圓質量檢測要求高效準確,能夠精準捕捉缺陷,特別是晶圓作為半導體芯片制造的基本元件,準確度非常重要,所以晶圓質量檢測高度依賴超精密儀器測量,可通過激光共聚焦顯微鏡
    的頭像 發表于 06-15 10:05 ?597次閱讀
    芯明天壓電物鏡定位器應用于半導體晶圓質量檢測系統
    亚洲欧美日韩精品久久_久久精品AⅤ无码中文_日本中文字幕有码在线播放_亚洲视频高清不卡在线观看
    <acronym id="s8ci2"><small id="s8ci2"></small></acronym>
    <rt id="s8ci2"></rt><rt id="s8ci2"><optgroup id="s8ci2"></optgroup></rt>
    <acronym id="s8ci2"></acronym>
    <acronym id="s8ci2"><center id="s8ci2"></center></acronym>