Keithley 吉時利 4200A-SCS材料和半導體參數分析儀

Keithley4200A-SCS參數分析儀源 是一種可以量身定制、全面集成 的參數分析儀，可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈沖式I-V 特性。作為性能最高的參數分析儀， 4200A-SCS 加快了半導體、材料和工藝開發速度。

4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的軟件提供了清楚的、不折不 扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業知識和數百項隨時 可以投入使用的應用測試，Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究過程，快速而又滿懷信心。

4200A-SCS 參數分析儀可以根據不同用戶需求進行靈活配 置，不管是現在還是未來，都可以隨時對系統進行升級。通過 4200A-SCS 參數分析儀，通往發現之路現在變得異常簡便。

主要性能指標

I-V 源測量單元(SMU)

• ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
• 100 fA測量分辨率
• 選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
• 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
• 四象限操作
• 2 線或 4 線連接

C-V 多頻率電容單元(CVU)

• AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
• 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
• ± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源，可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
• 選配 CVIV 多通道開關，在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
• 兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
• 200 MSa/s，5 ns 采樣率
• ±40 V (80 V p-p)，±800 mA
• 瞬態波形捕獲模式
• 任意波形發生器 Segment ARB? 模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率