Detectus HRE/SCN系列EMC掃描儀

Detectus HRE/SCN系列EMC掃描儀

Pendulum/Detectus系列 EMC 掃描儀是功能強大的用于測量和分析電磁干擾（EMI）的預兼容測試工具。這些掃描儀可以對電磁干擾信號進行可重復的高分辨率掃描測試，也有抗擾度測試選件，掃描步進低至25um，IC測試選件也可以對 IC內部的干擾信號進行掃描。

EMC預兼容測試是電子產品設計過程中必須的測試環節，從IC到部件到整機，產品在定型前都需要在實驗室完成EMC及EMI的摸底實驗。

HRE/SCN系列EMC 掃描儀的優點

Advantages

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在產品定型前使? EMC-Scanner，您可以找到輻射信號的頻率幅度及發生點，可以大幅度節約您的開發成本縮短開發周期。

在產品開發過程中越早發現您產品的 EMC 熱點，整改補救的成本就會越低！

產品優勢：

在EMC認證測試之前檢測 EMC的問題，避免再次檢測，節省時間和金錢。

通過重復和一致性的測量，非常容易比較不同的設計備選方案。

通過消除內部EMI熱點，提高設計質量。

功能強大且易于使用的軟件可以對任何頻率的電磁干擾信號發射或者抗擾度熱點進行出色的可視化顯示。

多維 2D、3D 或 4D 掃描（3D 加近場探頭尖端旋轉），提供有關 EMI 噪聲源的有價值信息。

以低至 25um 的步長進行掃描，可以對 IC 內部噪聲進行測量。

支持市場上100多種不同型號的頻譜分析儀，不斷為新型號頻譜分析儀創建新的驅動程序。

4D 掃描 = 3D 移動 + 旋轉！

如果產品在EMC認證測試中未通過，通常您只會知道哪個頻率沒有通過，而不會知道噪聲源的位置信息。EMC 掃描儀可以幫助您找到電磁輻射噪聲源的位置，在您重新設計產品時可以進行多次重復測量，幫助您降低電磁輻射信號的強度以便順利通過認證測試。

六種不同 IC 去耦電容器替代方案的 EMI 比較測量

世界一流的軟件，能夠看到電磁輻射信號的分布

易于使用且功能豐富的 DSS 軟件可讓您在元器件級別，甚至在芯片的內部，測量和可視化顯示電磁輻射信號的強度和位置，測量結果可以二維或者三維彩色顯示，并可以輕松的重復測量，從而可以對多次的測量結果進行客觀比較。

由于掃描儀可以精確的重復掃描，測量結果可以保存，所以在產品的板級升級改進過程中，可以對不同版本的電路板的電磁輻射測量結果進行精確比較。掃描儀軟件甚至允許兩個掃描結果相減，以得到由于任何電路板布局或組件變化而引起的電磁輻射信號的真正差異。

產品介紹

Introductions

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1

SCN 系列 EMC 掃描儀，

帶 2D/4D 掃描功能

SCN系列有三種不同的尺寸，以適應大多數DUT的需要。將0.1 mm的高掃描分辨率與探頭旋轉相結合，以及一流的掃描軟件，SCN系列可以提供強大的可視化EMC預兼容掃描測試。對于元器件/模塊/組件高度起伏不同的電路板，可選的激光測距選件可以跟蹤 DUT 的表面進行激光測距掃描，按照與 DUT 固定距離進行測量的要求，自動創建 DUT 的精確 3D 掃描路徑模型。

2

HRE 系列 EMC 高分辨率掃描儀，

帶 3D/4D 掃描功能

HRE系列有兩種不同的尺寸，以適應大多數DUT的需要。25μm的超高掃描分辨率與探頭旋轉相結合，以及一流的掃描軟件，HRE系列可以提供功能強大的可視化EMC預兼容掃描測試?？蛇x的 IC 掃描測試套件配有專用的檢測攝像頭和高分辨率近場探頭，讓您甚至可以掃描 IC芯片 內部的電磁干擾信號發射和抗擾度熱點。

產品參數

Key Specifications

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（點擊查看大圖）

Pendulum/Detectus

AboutPendulum/Detectus

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時間及頻率的測量、分析、模擬

和校準專家

自1990年代以來，瑞典公司 Detectus 就是世界領先的 EMC 掃描儀產品供應商。自 2020 年 7 月起，Detectus 公司成為 Pendulum Instruments 不可分割的一部分。

Pendulum公司的歷史可以追溯到20世紀50年代，當時Pendulum還是飛利浦測試和測量部門的瑞典分部，后于1998年從中分離出來的。目前，Pendulum儀器公司在波蘭、瑞典和美國設有辦事處，在各大洲約100個國家都設有銷售代表，并在多個國家設有服務中心。

Pendulum的產品多次被T&M World雜志授予測試儀器翹楚的榮譽獎，Pendulum Instruments還被雜志《Elektronik i Norden》授予“年度電子公司”的稱號。

審核編輯 ：李倩