<acronym id="s8ci2"><small id="s8ci2"></small></acronym>
<rt id="s8ci2"></rt><rt id="s8ci2"><optgroup id="s8ci2"></optgroup></rt>
<acronym id="s8ci2"></acronym>
<acronym id="s8ci2"><center id="s8ci2"></center></acronym>
0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

光學系統常用光學參數的測量

新機器視覺 ? 來源:小小光學08 ? 作者:小小光學08 ? 2022-08-19 16:08 ? 次閱讀

一.焦距的測量 1.放大倍率法測焦距

2bd23538-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

被測光學系統放置在已知焦距為f0的平行光管的物鏡前,平行光管物鏡焦平面上放置玻羅板(一組已知刻線間隔的精密分劃板);在被測光學系統焦面上用顯微鏡瞄準玻羅板的像,設玻羅板某一對線寬為d,在被測光學系統的焦面上所成像的線寬為d`,則被測系統的焦距f為

2bee37e2-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

平行光管的焦距f0為被測光學系統的焦距f的3~5倍。 2.精密測角法測焦距

2bfb1ed0-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

分劃板放置在被測平行光管的焦面上,經經緯儀放置在被檢光學系統的前面,用經緯儀測量某一線對(線對寬度為L)對應的夾角為ω,則被測光學系統的焦距f為

2c0795de-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

二.視場的測量 1.運用精密測角裝置測量視場

2c15e7f6-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

將測量顯微鏡放置在被測光學系統的像方并與被測光學系統一并安放在轉臺上。被測光學系統的物方安放帶目標點的平行光管。將轉臺轉到一邊緣能看到目標像,記下轉臺的角度值ω1,再轉到另一邊緣能看到目標像,記下轉臺的角度值ω2,則被測光學系統的視場為

2c20f772-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

2.運用大視場平行光管測量視場

2c30e380-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

大視場平行光管主要用于角度測量,在大視場平行光管的焦面處放置一刻有角度值的分劃板。檢測視場時,將被測光學系統瞄準大視場平行光管,能看清分劃板上標有的視場角度值,就是被測光學系統的視場。 三.像質的測量 1.分辨率的檢測

2c410ddc-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

照相系統空間分辨率用平行光管加分辨率板進行測量。在平行光管的焦面上放置對應板號的柵格分辨率板,在平行光管的物方放置被測光學系統,在被測光學系統的像方用測量顯微鏡觀察,能將分辨率板最小柵格四個方向上的條紋看清楚,記下分辨率板板號和單元號,再查表找到相應的條紋線寬b和空間頻率N0。

2c55dc58-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

2c645a3a-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

被測光學系統的空間分辨率N可表示為

2c7f72de-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

上式中,f0為平行光管的焦距,f為被測光學系統的焦距。 被測光學系統的角分辨率α為

2c8b9e06-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

分辨率檢測還用到了其他很多種分辨率板,也可以定制分辨率板。 2.畸變檢測

2c995622-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

對于無限遠視場角為ω的目標經被測光學系統后成像在焦面F處,對應的像高為y`,若近軸焦距為f,相應的理論像高y為

2ca88854-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

則絕對畸變δd為

2cb59c56-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

視場角ω定義了光學系統的實際焦距f`,則有

2cc268c8-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

畸變δd為

2cd54c2c-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

上式表明,畸變定義為各視場角下實際像高與理論像高的差值,同時也可定義為各視場角下實際焦距與近軸理論算出的焦距的差值。 畸變的檢測方法有兩種: 一種是按被測光學系統工作光路的逆向光路檢測畸變;

2ce5306a-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

另一種是按被測光學系統工作光路方向檢測畸變。

2d0131c0-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

這兩種檢測方法只是檢測光路相反,在畸變計算上是一樣的。

3.星點檢測法

由于任意物的分布都可以看成無數個具有不同強度的、獨立發光點的集合;任意物的像就是這無數個星點像的集合。因此,星點像的光強分布函數就決定了該系統的成像質量。 另外,星點像的光強分布比較易于描述,所以星點檢測法是檢測成像光學系統質量時最基本、最簡單的一種方法。

2d10f5c4-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

光源通過聚光鏡照亮位于平行光管焦面的星點板小孔,從平行光管出射的平行光經待測物鏡,在其焦面上成像,然后用目鏡(測量顯微鏡)對所成的像進行觀察。 根據星點衍射圖的特征準確可靠地判斷光學系統的像質及影響像質的主要因素。 星點檢測法對檢測人員要求比較高,除了要求檢測人員掌握星點檢測的基本原理外,還必須了解單獨具有某種像差或缺陷的星點衍射鏡的特征。 星點檢測法可以檢測光學系統的共軸性、球差、位置色差、彗差、像散及其客觀存在的工藝。 隨著CCD和計算機技術的發展,光學圖像數字化已成為現實,可以用計算機采集星點圖像,而且可以同時再現焦前、焦面和焦后的星點圖像,判斷像差的性質與大小。

4.干涉儀法

光學系統的波像差是指通過被檢光學系統后的實際波面相對于理想波面的偏差,最常用的測量方法為干涉法。 干涉法的原理為被測光學系統的實際波面與參考波面(理想波面)之間相互干涉,從干涉圖中求出實際波面的形狀和理想波面的偏差。 參考波面(理想波面)可有參考鏡產生,如泰曼-格林干涉儀、菲佐干涉儀; 參考波面由像面上小孔衍射形成,如點衍射干涉儀; 參考波面由被測光學系統本身不同部分產生,如波面剪切干涉儀。

5.哈特曼法測量

幾何像差是指測量被檢光學系統對不同色光、不同視場、不同入射高度的細光束在光軸上交點位置來評價成像質量,較常用的方法為哈特曼法。

2d1e788e-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

哈特曼法是檢測遠攝光學系統幾何像差的常用方法,其特點是借助一米字形排列的小孔光闌,在被檢光學系統的物方形成采樣光束,在被檢光學系統的焦面用哈特曼采集器采集焦前、焦后兩截面的光斑間距確定成像系統的像差。 哈特曼法可檢測光學系統的球差、位置色差、彗差、場曲和像散。 四.光學傳遞函數的測量 光學傳遞函數是指以空間頻率為變量,表征成像過程中調制度和橫向位移的相對變化的函數。 光學傳遞函數是光學系統對空間頻譜的濾波變換。 一個非相干照明的光學成像系統,像的強度也是線性的,滿足疊加原理。 觀察到的各類物體,通過光學儀器(如照相機、顯微鏡、望遠鏡)和光學系統看到、探測到的圖像和目標,通過CCD、CMOS等獲得的圖形、圖像,具有顏色和亮度兩個重要的參數。 一幅單色光圖像總是由緩慢變化的背景,粗大的物體和急劇變化的邊緣、局部細節構成。 傅里葉光學中用空間頻率v來描述光強變化的快慢程度,把圖像中緩慢變化的成分看作圖像的“低頻”,而把急劇變化的成分看作圖像的“高頻”,單位是mm-1,即每毫米中光強變化的周期數。 空間頻率等于0表明圖像中沒有光強變化(如一張白紙)。 一幅圖像中既有零頻分量,又有非零頻分量,后者包含了各種空間頻率的分量。 零頻分量代表平均光強,稱圖像的直流分量;非零頻分量又稱圖像的交流分量。 光學成像系統對于各種空間頻率成分的傳遞性能反映了該系統的成像質量,可借助于系統對于不同空間頻率余弦光柵的傳遞特性來表征。

2d345dfc-1f81-11ed-ba43-dac502259ad0.png

測量時,先將被測光學系統放置在調整裝置上,調整被測光學系統使光軸與平行光管的光軸重合,旋轉裝置的轉軸與被測光學系統和入瞳中心(主點)重合,平行光管發出的光經被測光學系統后成像在數據采集單元上。 計算時,需要知道被測系統的焦距,然后根據平行光管和被測系統的倍率關系,求取狹縫在被測系統焦面的大小,此時需保證狹縫像的截止頻率高于被測系統的截止頻率。對數據采集分析組件的圖像進行一次傅里葉變換,然后每個空間頻率的幅值相對于零頻歸一化;再根據數據采集分析組件的放大倍率及CCD大小對橫坐標進行賦值;最后狹縫的影響通過對MTF進行修正實現,最終修正值即為系統某一視場角位置一系列不同空間頻率的MTF。 轉動被測光學系統及數據采集單元,按上述方法測量另一視場角位置不同空間頻率的MTF。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 焦距
    +關注

    關注

    0

    文章

    14

    瀏覽量

    9706
  • 測量
    +關注

    關注

    10

    文章

    4334

    瀏覽量

    109969
  • 光學系統
    +關注

    關注

    4

    文章

    230

    瀏覽量

    17988

原文標題:光學系統常用光學參數的測量

文章出處:【微信號:vision263com,微信公眾號:新機器視覺】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    光學系統的像方基本參數結構示意圖

    在成像光學領域中,可定義一種光學系統,光線通過該光學系統能夠形成理想像即可忽略任何損耗與誤差,定義該系統為理想光學系統。
    發表于 04-15 14:12 ?203次閱讀
    <b class='flag-5'>光學系統</b>的像方基本<b class='flag-5'>參數</b>結構示意圖

    如何檢測光學系統的縱向色差

    在高精度成像中,對給定光學系統的焦距進行 測量是非常重要的。通常意義上的焦距是指某一 特定波長(一般為設計波長)的焦距數值,目前主 流的焦距檢測設備的光源波長無法與被測光學系 統完全匹配,縱向色差會對焦距的
    發表于 03-18 10:09 ?163次閱讀
    如何檢測<b class='flag-5'>光學系統</b>的縱向色差

    光學系統設計過程

    任何一種光學儀器的用途和使用條件必然會對它的光學系統提出一定的要求,因此,在我們進行光學設計之前一定要了解對光學系統的要求。
    的頭像 發表于 01-23 13:46 ?244次閱讀

    鏡頭在光學系統中的作用

    鏡頭分辨率在光學系統中的核心作用
    發表于 12-04 10:12 ?0次下載

    淺談空間光學系統內部的雜散輻射分析

    對于光學系統的雜光抑制能力,我們可采用點源透過率(PST)指標來評價。PST值越小,則光學系統的雜光抑制能力就越強,系統性能也越好。PST定義為:光學系統視場外的視場角為θ的點源目標輻
    的頭像 發表于 11-07 10:25 ?477次閱讀
    淺談空間<b class='flag-5'>光學系統</b>內部的雜散輻射分析

    基于離軸成像光學系統的設計

    ? ? ? ? ? 針對自由曲面能提升成像光學系統的性能和校正像差的特點,分析了自由曲面在離軸光學系統中的應用優勢。光學系統選用視場角為30°×11°、焦距為150 mm、F數為3的Cook-TMA
    的頭像 發表于 09-10 09:06 ?868次閱讀
    基于離軸成像<b class='flag-5'>光學系統</b>的設計

    紅外光學系統設計方案

    紅外光學系統的基本功能是接收和聚集目標所發出的紅外輻射并傳遞到探測器產生電信號。紅外光學系統與普通(可見光)系統設計區別主要在應用的光學材料上。
    的頭像 發表于 09-07 10:13 ?622次閱讀
    紅外<b class='flag-5'>光學系統</b>設計方案

    折反式變形光學系統設計

    摘要:變形光學系統具有雙平面對稱性,其在兩個對稱面內的焦距不同。利用變形光學系統能夠在使用常規尺寸傳感器的情況下獲得更寬的視場。本文根據變形光學系統的一階像差特性,提出了一種設計折反式變形光學
    的頭像 發表于 08-30 06:29 ?362次閱讀
    折反式變形<b class='flag-5'>光學系統</b>設計

    同軸折反式變形光學系統設計方法 變形光學系統的結構及像差特性

    摘要 :變形光學系統具有雙平面對稱性,其在兩個對稱面內的焦距不同。利用變形光學系統能夠在使用常規尺寸傳感器的情況下獲得更寬的視場。本文根據變形光學系統的一階像差特性,提出了一種設計折反式變形
    的頭像 發表于 07-31 15:15 ?656次閱讀
    同軸折反式變形<b class='flag-5'>光學系統</b>設計方法 變形<b class='flag-5'>光學系統</b>的結構及像差特性

    常用光學參數測量測定方法有哪些

    被測光學系統放置在已知焦距為f0的平行光管的物鏡前,平行光管物鏡焦平面上放置玻羅板(一組已知刻線間隔的精密分劃板)。在被測光學系統焦面上用顯微鏡瞄準玻羅板的像,設玻羅板某一對線寬為d,在被測光學系統的焦面上所成像的線寬為d`,則
    發表于 07-28 15:02 ?2631次閱讀
    <b class='flag-5'>常用光學</b><b class='flag-5'>參數</b>的<b class='flag-5'>測量</b>測定方法有哪些

    折衍射混合成像光學系統設計

    摘要 :討論了衍射光學元件的特殊成像性質;提出了帶寬積分平均衍射效率的概念和應用;給出了作者在國內外完成的幾個折衍射混合成像光學系統的應用實例,包括一個用衍射光學元件復消色差的長焦距光學系統
    的頭像 發表于 07-02 09:59 ?590次閱讀
    折衍射混合成像<b class='flag-5'>光學系統</b>設計

    光學系統設計的不可忽略的參數介紹

    實際光學系統的成像是不完善的,光線經光學系統各表面傳輸會形成多種像差,使成像產生模糊、變形等缺陷。像差就是光學系統成像不完善程度的描述。光學系統設計的一項重要工作就是要校正這些像差,使
    發表于 06-19 12:45 ?284次閱讀
    <b class='flag-5'>光學系統</b>設計的不可忽略的<b class='flag-5'>參數</b>介紹

    光學系統的基本特性

    ? 任何一種光學儀器的用途和使用條件必然會對它的光學系統提出一定的要求,因此,在我們進行光學設計之前一定要了解對光學系統的要求。這些要求概括起來有以下幾個方面。 一、
    的頭像 發表于 06-14 10:17 ?1365次閱讀

    光學系統設計的過程及要求

    所謂光學系統設計就是根據使用條件,來決定滿足使用要求的各種數據,即決定光學系統的性能參數、外形尺寸和各光組的結構等。因此我們可以把光學設計過程分為4 個階段:外形尺寸計算、初始結構計算
    發表于 06-14 10:15 ?364次閱讀

    光學系統設計流程

    ? 引言 實際光學系統的成像是不完善的,光線經光學系統各表面傳輸會形成多種像差,使成像產生模糊、變形等缺陷。像差就是光學系統成像不完善程度的描述。光學系統設計的一項重要工作就是要校正這
    的頭像 發表于 06-13 09:41 ?700次閱讀
    <b class='flag-5'>光學系統</b>設計流程
    亚洲欧美日韩精品久久_久久精品AⅤ无码中文_日本中文字幕有码在线播放_亚洲视频高清不卡在线观看
    <acronym id="s8ci2"><small id="s8ci2"></small></acronym>
    <rt id="s8ci2"></rt><rt id="s8ci2"><optgroup id="s8ci2"></optgroup></rt>
    <acronym id="s8ci2"></acronym>
    <acronym id="s8ci2"><center id="s8ci2"></center></acronym>