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電子發燒友網>測量儀表>Micsig光隔離探頭實測案例——氮化鎵GaN半橋上管測試

Micsig光隔離探頭實測案例——氮化鎵GaN半橋上管測試

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CGHV96050F1是款碳化硅(SiC)基材上的氮化(GaN)高電子遷移率晶體(HEMT)。與其它同類產品相比,這些GaN內部搭配CGHV96050F1具有卓越的功率附帶效率。與硅或砷化
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MACOM:適用于5G的半導體材料硅基氮化GaN

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2018-07-30 15:25:55

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QPD1018氮化晶體產品介紹QPD1018報價QPD1018代理QPD1018咨詢熱線QPD1018現貨,王先生 深圳市首質誠科技有限公司QPD1018內部匹配離散GaN
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通過SMT封裝,GaNFast? 氮化功率芯片實現氮化器件、驅動、控制和保護集成。這些GaNFast?功率芯片是一種易于使用的“數字輸入、電源輸出” (digital in, power out
2023-06-15 16:03:16

什么是氮化技術

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什么是氮化GaN)?

具有更小的晶體、更短的電流路徑、超低的電阻和電容等優勢,氮化充電器的充電器件運行速度,比傳統硅器件要快 100倍。 更重要的是,氮化相比傳統的硅,可以在更小的器件空間內處理更大的電場,同時提供更快的開關速度。此外,氮化比硅基半導體器件,可以在更高的溫度下工作。
2023-06-15 15:41:16

什么是氮化GaN)?

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什么阻礙氮化器件的發展

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從傳統伺服電機應用到新型機器人:TI氮化、電容隔離和Fly-buck技術助你提高功率密度

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傳統的硅組件、碳化硅(Sic)和氮化(GaN)

應用領域,SiC和GaN形成競爭。隨著碳化硅(SiC)、氮化(GaN)等新材料陸續應用在二極、場效晶體(MOSFET)等組件上,電力電子產業的技術大革命已揭開序幕。這些新組件雖然在成本上仍比傳統硅
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基于GaN HEMT的橋LLC優化設計和損耗分析

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基于氮化IC的150W高效率高功率密度適配器設計

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氮化技術是功率級的真正推動者,如今可提供過去十年無法想象的性能。只有當柵極驅動器與晶體具有相同程度的性能和創新時,才能獲得GaN的最大性能和優勢。經過多年的研發,MinDCet通過推出
2023-02-24 15:09:34

如何學習氮化電源設計從入門到精通?

材料特性對比展開,通過泰克儀器測試英飛凌GaN器件來進行氮化特性的測量與分析。方案配置:示波器MSO5+隔離探頭TIVH08+電壓及電流探頭+電源和IGBT town 軟件第二步:電路設計和PCB
2020-11-18 06:30:50

如何實現氮化的可靠運行

我經常感到奇怪,我們的行業為什么不在加快氮化 (GaN) 晶體的部署和采用方面加大合作力度;畢竟,大潮之下,沒人能獨善其身。每年,我們都看到市場預測的前景不太令人滿意。但通過共同努力,我們就能
2022-11-16 06:43:23

如何用集成驅動器優化氮化性能

導讀:將GaN FET與它們的驅動器集成在一起可以改進開關性能,并且能夠簡化基于GaN的功率級設計。氮化 (GaN) 晶體的開關速度比硅MOSFET快很多,從而有可能實現更低的開關損耗。然而,當
2022-11-16 06:23:29

如何設計GaN氮化 PD充電器產品?

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2021-06-15 06:30:55

實現更小、更輕、更平穩的電機驅動器的氮化器件

的性能已接近理論極限[1-2],而且市場對更高功率密度的需求日益增加。氮化(GaN)晶體和IC具有優越特性,可以滿足這些需求。 氮化器件具備卓越的開關性能,有助消除死區時間且增加PWM頻率,從而
2023-06-25 13:58:54

對于手機來說射頻GaN技術還需解決哪些難題?

氮化技術非常適合4.5G或5G系統,因為頻率越高,氮化的優勢越明顯。那對于手機來說射頻GaN技術還需解決哪些難題呢?
2019-07-31 06:53:15

將低壓氮化應用在了手機內部電路

MOS對向串聯來實現電池關斷的,因為硅MOS管內部存在體二極,只能控制充電方向或者放電方向的關閉,無法徹底關斷電路,所以需要使用兩顆對向串聯來使用。氮化鋰電保護板應用可以說是有鋰電池的地方就離不開
2023-02-21 16:13:41

德州儀器助力氮化技術的推廣應用

在德州儀器不斷推出的“技術前沿”系列博客中,一些TI最優秀的人才討論當今最大的技術趨勢以及如何應對未來挑戰等問題。相較于先前使用的硅晶體,氮化GaN)可以讓全新的電源應用在同等電壓條件下以更高
2018-08-30 15:05:40

想要實現高效氮化設計有哪些步驟?

PCB布局設計的最佳工程實踐。介紹了以下四種電路配置的布局指南:  用于單GaN E-HEMT的隔離式柵極驅動器電路  用于并聯氮化E-HEMT的隔離式柵極驅動器電路  橋自舉柵極驅動器電路
2023-02-21 16:30:09

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2022-11-10 06:36:09

有關氮化半導體的常見錯誤觀念

功率/高頻射頻晶體和發光二極。2010年,第一款增強型氮化晶體普遍可用,旨在取代硅功率MOSFET。之后隨即推出氮化功率集成電路- 將GaN FET、氮化基驅動電路和電路保護集成為單個器件
2023-06-25 14:17:47

求助,請問橋上氮化這樣的開爾文連接正確嗎?

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2024-01-11 07:23:47

用于大功率和頻率應用的舍入 GaN 基晶體

針對可靠的高功率和高頻率電子設備,制造商正在研究氮化(GaN)來制造具有高開關頻率的場效應晶體(FET)由于硅正在接近其理論極限,制造商現在正在研究使用寬帶隙(WBG)材料來制造高效率的大功率
2022-06-15 11:43:25

直接驅動GaN晶體的優點

受益于集成器件保護,直接驅動GaN器件可實現更高的開關電源效率和更佳的系統級可靠性。高電壓(600V)氮化GaN)高電子遷移率晶體(HEMT)的開關特性可實現提高開關模式電源效率和密度的新型
2020-10-27 06:43:42

硅基氮化與LDMOS相比有什么優勢?

射頻半導體技術的市場格局近年發生了顯著變化。數十年來,橫向擴散金屬氧化物半導體(LDMOS)技術在商業應用中的射頻半導體市場領域起主導作用。如今,這種平衡發生了轉變,硅基氮化(GaN-on-Si)技術成為接替傳統LDMOS技術的首選技術。
2019-09-02 07:16:34

第三代半導體材料氮化/GaN 未來發展及技術應用

處理,謝謝。GaN高電子遷移率晶體(HEMT)已經成為5G宏基站功率放大器的主流候選技術。GaN HEMT憑借其固有的高擊穿電壓、高功率密度、大帶寬和高效率,已成為基站PA的有力候選技術。GaN是極
2019-04-13 22:28:48

請問氮化GaN是什么?

氮化GaN是什么?
2021-06-16 08:03:56

誰發明了氮化功率芯片?

,是氮化功率芯片發展的關鍵人物。 首席技術官 Dan Kinzer在他長達 30 年的職業生涯中,長期擔任副總裁及更高級別的管理職位,并領導研發工作。他在硅、碳化硅(SiC)和氮化GaN)功率芯片方面
2023-06-15 15:28:08

迄今為止最堅固耐用的晶體氮化器件

了當時功率半導體界的一項大膽技術:氮化GaN)。對于強大耐用的射頻放大器在當時新興的寬帶無線網絡、雷達以及電網功率切換應用中的使用前景,他們表達了樂觀的看法。他們稱氮化器件為“迄今為止最堅固耐用
2023-02-27 15:46:36

采用ADMU4121來驅動氮化橋電路,上的驅動電壓隨輸入電壓的升高而升高是為什么?

采用ADMU4121來驅動氮化橋電路,采樣的全隔離的驅動方案,但是現在上的驅動電壓隨輸入電壓的升高而升高,不知道為啥?是因為驅動芯片的原因嗎?上是將5V的輸入電壓由B0515隔離芯片轉化
2024-01-11 06:43:50

高壓氮化的未來分析

就可以實現。正是由于我們推出了LMG3410—一個用開創性的氮化 (GaN) 技術搭建的高壓、集成驅動器解決方案,相對于傳統的、基于硅材料的技術,創新人員將能夠創造出更加小巧、效率更高、性能更佳
2022-11-16 07:42:26

高壓氮化的未來是怎么樣的

就可以實現。正是由于我們推出了LMG3410—一個用開創性的氮化 (GaN) 技術搭建的高壓、集成驅動器解決方案,相對于傳統的、基于硅材料的技術,創新人員將能夠創造出更加小巧、效率更高、性能更佳
2018-08-30 15:05:50

氮化測試

氮化
jf_00834201發布于 2023-07-13 22:03:24

#氮化 #英飛凌 8.3億美元!英飛凌完成收購氮化系統公司 (GaN Systems)

半導體氮化
深圳市浮思特科技有限公司發布于 2023-10-25 16:11:22

力科推高壓光隔離探頭和功率器件測試軟件

力科宣布推出新的DL-ISO 1 GHz高壓光隔離探頭和功率器件測試軟件,與高精度示波器 (HDO) 結合使用時,可提供最準確的氮化鎵 (GaN) 和碳化硅 (SiC) 功率半導體器件的電氣特性表征。
2022-04-13 15:04:023434

詳解GaN和SiC器件測試的理想探頭

DL-ISO 高壓光隔離探頭具有 1 GHz 帶寬、2500 V 差分輸入范圍和 60 kV 共模電壓范圍,提供非常高的測量精度和豐富的連接方式,是GaN 和 SiC 器件測試的理想探頭。
2022-11-03 17:47:061121

隔離探頭實測案例——氮化GaN橋上測試

測試背景地點:國外某知名品牌半導體企業,深圳氮化鎵實驗室測試對象:氮化鎵半橋快充測試原因:因高壓差分探頭測試橋上管Vgs時會炸管,需要對半橋上管控制信號的具體參數進行摸底測試測試探頭:麥科信OIP
2023-03-13 17:43:36692

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