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DDR3/LPDDR3一致性測試/分析/調試系統

你所不了解的DDR

市場現狀

測試痛點

測試方案

方案優勢

技術指標

隨著近十年以來智能手機、智能電視、AI技術的風起云涌，人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計算機存儲器的需求不斷提高，DDR SDRAM也不斷地響應市場的需求和技術的升級推陳出新。

目前，用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已經演進到了DDR5了，但市場上對經典的DDR3 SDRAM的需求仍然比較旺盛。

測試和驗證電子設備中的DDR內存，客戶一般面臨三大難題：

1.如果連接DDR內存管腳；

2.如何探測和驗證突發的讀寫脈沖信號；

3.配置測試系統完成DDR內存一致性測試

為解決研發人員在DDR內存系統研發、調試和驗證測試的難題，推薦配置基于MSO64B示波器的內存調試及一致性測試系統，主要功能如下：

●完整的覆蓋DDR3和LPDDR3規范測試的項目

●自動實現突發Write/Read信號分離，可以在同一次采集數據中完成參數測試；

●對控制器端可以自定義修改電平門限，適用不同存儲接口的設計；

●支持CMD總線解碼，更加直觀的反應內存總線讀寫時序；

●同時兼顧標準化測試和單項調試，可以用于產品調試和驗證環節；

●自動生成一致性測試報告，匯總測試數據和關鍵波形截圖

●TDP77系列三模探頭，提供DDR測試專用FLEXB柔性連接附件，針對DDR芯片/顆粒狹小空間設計，配合Interposer完成各種類型DDR芯片的信號連接

系統中的MSO6B示波器是全新一代高精度/多通道信號采集與分析設備，具有12bits高分辨率ADC，uV級的本底噪聲和50Gs/s高采樣率，準確捕獲和分析DDR讀寫和控制信號FlexChannel技術通過TLP058探頭可以靈活將任一模擬通道轉變為8路數字通道，實現數字通道測試。

使用泰克DDR測試系統，工程師可以享受到如下便利：

●無需參考復雜的JEDEC規范，快速測試關鍵指標系統參數，找到系統潛在風險；泰克提供與JEDEC聯合發布的測試MOI，指導使用者輕松完成信號連接、儀器設置與全自動或手動測試。

●通過探頭可以將系統工作時的波形準確的采集下，提供最直接最深入的信號接口時序/幅度信息，無需設置特定的測試場景；

●對特殊場景下DDR/LPDDR的應用提供測試能力，可以確保系統性能的前提下找到芯片工作的極限條件；

●無需人工進行READ/WRITE的區分，全自動軟件判斷，或者通過CMD總線進行聯合調試，發現潛在的時序風險；

●當測試出現fail時，可以針對fail項目進行多次，循環測試，改變電路、芯片參數，迅速反饋測試結果以調整到最佳值；

1.模擬通道數：不小于4通道

2.帶寬：不低于8GHz

3.最高采樣率：不小于50Gs/s

4.垂直分辨率：不小于12bits（硬件，非軟件實現）

5.數字通道數：可支持32路數字通道

6.本底噪聲 (50Ω阻抗，4GHz，1mV/div，RMS) ：不大于100μV

7.可視化觸發：支持20個用戶繪制區域的軟件觸發

8.支持DDR3分析與調試功能，支持用戶定義DDR速率

9.支持自動DDR3一致性測試功能

10.支持limit極限測試，支持用戶自定義極限；支持自定義測試循環次數

11.提供4只帶寬不小于1GHz，電容不大于4pF無源高阻探頭

TDP7708探頭+FLEXB連接器完美解決DDR內存信號連接問題

Tektronix 與 JEDEC聯合發布的MOI

技術資料

視頻課件

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探尋DDR的發展演變，詳解經典DDR3的解決方案。

注：下載一個文檔或觀看一次視頻，可積1分。抽獎一次消耗2分，獎品以實物為準

MIPI DPHY一致性測試與高速數字電路調試系統方案

你所不了解的MIPI

市場現狀

測試痛點

測試方案

方案優勢

技術指標

MIPI總線具有傳輸速率高、功耗低、EMI輻射低的特點，廣泛應用在攝像頭，智能手機，IoT和汽車電子等領域。但MIPI總線的技術特征也為開發設計人員帶來一些挑戰，影響力工程師們的工作效率和項目進程。

客戶面臨四大難題：

●一致性測試項目、標準、步驟繁雜，難以全部掌握

●測試項目繁多，LP為單端信號，HS為差分信號，LP/HS模式切換的時序測量項目復雜，切換時總線負載變化大

●HS模式信號擺幅小，需要測試設備的動態范圍高，否則難于分析

●測試點難以觸及和焊接，電路可探測性差

針對MIPI DPHY總線研發、調試和驗證測試的難題，推薦配置了基于MSO64B示波器的MIPI DPHY一致性測試及高速數字電路調試系統，主要功能如下：

o100%覆蓋MIPI DPHY1.2(可擴展2.0)一致性測試，覆蓋CTS1.2所定義物理層測試項目；

o全自動化測試，覆蓋HS，LP信號測試，LP-HS，ULPS時序測試；測試可以覆蓋待測物全部工作狀態：Continuous 或 Burst 模式, Termination variations, 以及 varying idle 時序；

o專業的DJA抖動分析軟件，提供快速眼圖繪制和抖動參數測量，對信號質量做全面解讀。豐富的調試功能，可針對特定參數margin進行測量；

oI3C和DPHY解碼功能，完成DPHY信號的數據解碼和搜索，方便電路功能調試；

o核心設備MSO64B示波器提供12 bits高精度ADC，配合超低噪聲模擬前端電路，更準確的測量HS-LP轉換中HS的幅度和時序；

●采用TDP77系列三模探頭，提供MIPI測試專用FLEXA柔性連接附件，解決狹小空間信號連接難題。系統提供高阻探頭，準確測量LP狀態信號幅度及時序。

使用泰克MIPI DPHY一致性測試與高速數字信號調試系統，工程師可以享受到如下便利：

●全部一致性測試僅需20分鐘，大幅提升工作效率。系統可以幫助研發人員快速完整的評估DPHY接口物理層電氣指標是否滿足規范要求，無需對規范掌握或者專門的學習，可以做到’從測試中學習規范 ‘；

●避免測試序列錯誤。DPHY信號屬于多電平信號、突發傳輸，總線狀態切換頻繁，因此邏輯復雜/硬件設計需要考慮在HS高速和LP低功耗下兩種要求，測試中還需要關心兩種狀態之間的切換時序，這也是DPHY最容易出現問題的地方，系統可以自動捕獲各種狀態切換下的時序，進行測試，避免潛在的風險；

●采集真實信號。HS和LP狀態下信號擺幅相差幾十倍，而且需要同時在儀器種同時捕獲，測試設備更高的動態分辨率和更低的前端輸入底噪可以提供更優異的測試動態范圍，可以在確保LP信號的捕獲時，HS不會失真；

●消除系統誤差。LP模式下帶負載能力差，要求測試用的示波器探頭有足夠小的雜散電容和足夠高的輸入阻抗，才不會引起RC充放電所導致的DC 漂移，以及引入的時序測試誤差。

1.模擬通道數：不小于4通道

2.帶寬：不低于8GHz

3.最高采樣率：不小于50Gs/s

4.垂直分辨率：不小于12bits（硬件，非軟件實現）

5.數字通道數：可支持32路數字通道

6.本底噪聲(50Ω阻抗，4GHz，1mV/div，RMS) ：不大于100μV

7.可視化觸發：支持20個用戶繪制區域的軟件觸發

8.支持眼圖和抖動測試功能

9.支持自動MIPI DPHY 1.2一致性測試功能

10.支持limit極限測試，支持用戶自定義極限；支持自定義測試循環次數。

11.提供4只帶寬不小于1GHz，電容不大于4pF無源高阻探頭。

技術資料

視頻課件

視頻演講

課件下載

MIPI/LVDS物理層測試解決方案

注：下載一個文檔或觀看一次視頻，可積1分。抽獎一次消耗2分，獎品以實物為準

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