服務(wù)內容
芯片開(kāi)封測試是芯片制造、封裝環(huán)節中非常重要的一個(gè)環(huán)節，它能對芯片的可靠性、品質(zhì)和生產(chǎn)成本等方面產(chǎn)生重要的影響。因此，在芯片應用領(lǐng)域，開(kāi)展芯片開(kāi)封測試是非常關(guān)鍵的。廣電計量可提供化學(xué)開(kāi)封、激光開(kāi)封以及機械開(kāi)封等檢測方法。結合OM,X-RAY等設備分析判斷樣品的異常點(diǎn)位和失效的可能原因。
服務(wù)范圍
IC芯片半導體
檢測標準
GB/T 37045-2018 信息技術(shù) 生物特征識別 指紋處理芯片技術(shù)要求
GB/T 36613-2018 發(fā)光二極管芯片點(diǎn)測方法
GB/T 33922-2017 MEMS壓阻式壓力敏感芯片性能的圓片級試驗方法
GB/T 28856-2012 硅壓阻式壓力敏感芯片
EIA EIA-763-2002 自動(dòng)裝配用裸芯片和芯片級封裝,使用8 mm和12 mm載體帶捆扎
檢測標準將不定期更新，可聯(lián)系客服獲取最新的檢測標準。
測試項目
芯片開(kāi)封測試是指對芯片外殼打開(kāi)后，對芯片內部的電性能、可靠性以及物理參數進(jìn)行測量和分析，進(jìn)而評估芯片質(zhì)量的過(guò)程。具體包括以下范圍：
1、電參數測試
電參數測試是芯片開(kāi)封測試中*為基礎的部分，也是*為關(guān)鍵的一部分。主要測試項包括靜態(tài)特性、動(dòng)態(tài)特性、功耗、溫度等方面的測試。靜態(tài)特性包括電阻、電容、電感等測試，而動(dòng)態(tài)特性包括電壓、電流、頻率等測試。
2、物理性能測試
物理性能測試是芯片開(kāi)封測試中整個(gè)過(guò)程中不可或缺的一部分。主要測試項包括硬度測試、粘接強度測試、應力測試等方面的測試。這些測試可以直接反映芯片封裝的質(zhì)量，也是保證芯片正常工作的基礎。
3、IC可靠性測試
IC可靠性測試是芯片開(kāi)封測試過(guò)程中非常重要的一個(gè)環(huán)節，它是芯片封裝良好不良好的標志。主要測試項包括IC粘合可靠性、外部連接可靠性、溫度循環(huán)等方面的測試，這些測試可以為芯片使用提供更加穩定的保障。
4、造型尺寸測試
造型尺寸測試是指對芯片體積、尺寸、平面度、直線(xiàn)度等方面的測試，它們可以直接影響IC在使用過(guò)程中的穩定性和可靠性。
檢測資質(zhì)
CNAS、CMA
檢測周期
常規5-7個(gè)工作日
服務(wù)背景
半導體芯片在現代科技領(lǐng)域扮演著(zhù)極為重要的角色，而芯片開(kāi)封測試便是對芯片質(zhì)量的評估，從而保證芯片正常應用。芯片開(kāi)封測試是芯片制造、封裝的重要環(huán)節，也是提高芯片質(zhì)量的關(guān)鍵部分。本文將為您介紹芯片開(kāi)封測試的范圍及其重要性。
我們的優(yōu)勢
廣電計量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有業(yè)界領(lǐng)先的專(zhuān)家團隊及目前市場(chǎng)上最先進(jìn)的Ga-FIB系列設備，可為客戶(hù)提供完整的失效分析檢測服務(wù)，幫助制造商快速準確地定位失效，找到失效根源。同時(shí)，我們可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應?下的失效分析咨詢(xún)、協(xié)助客戶(hù)開(kāi)展實(shí)驗規劃、以及分析測試服務(wù)，如配合客戶(hù)開(kāi)展NPI階段驗證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶(hù)完成批次性失效分析。
